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鍍層厚度測量儀的優勢功能可滿足各種需求
閱讀：506 發布時間：2019-3-22
鍍層厚度測量儀是專業測試電鍍層厚度的儀器，*無損分析，多一次分析五層，薄可分析0.005μm，采用上照式照射，移動探測器和X光管上下可動，可以對凹面和凸面達到更好的測試效果，完成下照式對某些特殊樣品無法測試的效果。隨著市場競爭日益激烈，企業成本的不斷提高，客戶對鍍層厚度測量儀的要求越來越高，普通的膜厚測試儀無法滿足客戶的要求，鍍層厚度測量儀通過X射線照射，不同元素的發射出不同能量及強度的X光，通過接收器及軟件分析來分析金屬（鋁合金、銅合金）電鍍層（鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫等）的厚度。
鍍層厚度測量儀通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區的高精度測量的需求日益增多。實現微區下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。
鍍層厚度測量儀性能特點：
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；
采用高度定位激光，可自動定位測試高度；
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；
高分辨率探頭使分析結果更加；
良好的射線屏蔽作用；
測試口高度敏感性傳感器保護；
鍍層厚度測量儀性能優勢：
1.VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即對樣品鍍層膜厚進行測試；
2.除可對金屬鍍層測試外，還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行測量，開創了XRF對鍍層測厚的全面技術；
3.軟件可根據樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發揮探測器性能，大幅提高測量精度；
4.提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線；
5.三重射線防護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害；
6.儀器外部對樣品微調設計，降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發生變化導致的測試不準確性；
7.可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統計及格式要求；
8.對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術在該行業的應用；
9.軟件對多次測試結果進行統計分析功能；
10.既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF。