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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

PRODUCT DISPLAY

當(dāng)前位置：岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司>>產(chǎn)品展示>>其他品牌

  • WLA-3000 晶圓水平儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    分析磁膜性能對磁傳感器的設(shè)計和生產(chǎn)至關(guān)重要，WLA-3000自動晶圓液位分析儀可以與各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的自動晶圓探針集成，以表征成品器件或測試結(jié)果（包括橋接配置）的磁...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓水平儀磁傳感器測試
    2024/11/9 16:00:00772

  • 組裝和檢查紅外系統(tǒng) 定心儀（偏心儀） 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：LAS系列
    定心儀具有綠色（520nm）激光反射光模塊，533mm垂直直線聚焦運(yùn)動，微步進(jìn)電機(jī)和高精度旋轉(zhuǎn)編碼器
    型號： LAS系列 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    組裝和檢查紅外系統(tǒng)
    2024/11/9 15:54:151489

  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓檢測表面缺陷檢測缺陷檢測
    2024/11/9 15:52:291012

  • UltraFilm薄膜測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù)，是國內(nèi)可以...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜測量同質(zhì)膜厚全自動檢測
    2024/11/9 15:48:071337

  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:44:271505

  • QuickPRO-RPS--旋轉(zhuǎn)剖面儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    專為測量旋轉(zhuǎn)對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設(shè)計，如金剛石車削光學(xué)表面和模塑或拋光的非球面透鏡
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    旋轉(zhuǎn)剖面儀OATI輪廓儀形貌儀
    2024/11/9 15:42:53869

  • QuickPRO-3D--表面輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    適用于光學(xué)、工業(yè)和半導(dǎo)體市場的高速、中精度、經(jīng)濟(jì)實惠的表面輪廓儀，納米分辨率彩色共聚焦傳感器（可配制點(diǎn)和線傳感器），為在線過程測量和控制而設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊，易于上...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    輪廓儀表面測量3D形貌儀白光干涉輪廓儀
    2024/11/9 15:41:001179

  • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    應(yīng)力測量光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:36:49812

  • iFocus晶圓檢測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺檢測系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    長川晶圓檢測iFocus晶圓缺陷檢測STI
    2024/11/9 15:34:221358

  • 光學(xué)粗糙度測試儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WM 300
    光學(xué)粗糙度測試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長時間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進(jìn)行耗時粗糙度計算。利用角分辨光散射...
    型號： WM 300 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    WM 300光學(xué)粗糙度測試儀Optosurf
    2024/11/9 14:35:191978

  • 晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機(jī) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：PLS-F1000
    晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量，結(jié)合高精度運(yùn)動模組及晶圓機(jī)械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量，...
    型號： PLS-F1000 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    PLS-F1000形貌測量參數(shù)自動檢測機(jī)
    2024/11/9 14:30:533337

  • 微波等離子清洗機(jī) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：P03Q-6LS Plasma
    微波等離子清洗機(jī)專為微電子表面清潔與改性設(shè)計，用于改善引線鍵合和芯片鍵合結(jié)合力，倒裝芯片填充不足等封裝制程，可用于處理各種電子材料，包括塑料、金屬或者玻璃等。
    型號： P03Q-6LS ... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    微波等離子清洗微波等離子清洗機(jī)
    2024/11/9 14:23:512892

  • 微流控缺陷檢測 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Nanotronics nSpec Macro
    微流控缺陷檢測 Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個面，或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。 明場，暗場，正交和可配置的傾斜照明角度與...
    型號： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    微流控缺陷檢測
    2024/11/9 14:22:117970

  • 晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Nanotronics nSpec LS
    Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過程開發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運(yùn)行多個掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費(fèi)力。而且，隨...
    型號： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測
    2024/11/9 14:14:143512

  • 硅片厚度測量 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Filmetrics F3-sX
    硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。
    型號： Filmetric... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    硅片厚度測量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀膜厚儀
    2024/11/9 17:02:382796

  • StrainScope Flex可調(diào)式實時應(yīng)力儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    StrainScope Flex可調(diào)式實時應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn)，對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:59:552413

  • 實時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    實時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn)，對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:57:422453

  • 拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn)，對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶廣，用戶包括肖特、卡爾...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:56:052079

  • Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測量儀可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 16:56:413534

  • Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實時厚度信息。
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:50:162852

  • Filmetrics F60高級光譜反射系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)，并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測量。 選擇數(shù)十種預(yù)定義的極坐標(biāo)，矩形或線性地圖...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:48:261994

  • Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)45...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:46:332271

  • Filmetrics F54薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:44:473719

  • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:43:012365
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