當前位置:日立分析儀器(上海)有限公司>>XRF光譜儀>>手持式X射線熒光光譜儀>> X-MET8000 系列手持式 XRF 光譜儀
為什么選擇 X-MET 手持式 XRF 光譜儀
性能
X-MET提供輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測限度低,且可每天提供準確可靠結(jié)果。
通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進行分析,從而測試多種材料;或若需結(jié)果可追溯和高度準確,則使用實證校準。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。
符合人體工學
X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時間使用,而疲勞度低。
堅固耐用而擁有成本低
-
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
-
通過MIL-STD-810G 耐用標準測試。
-
其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。
高級數(shù)據(jù)管理
*靈活:可將多達100,000條結(jié)果保存在X-MET上,將報告輸出到U盤或個人計算機,或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。
手持式 XRF 光譜儀應(yīng)用
X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
廢金屬回收 | ? | ? | ? |
材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | ? | ? | |
制造與 PMI QA/QC | ? | ? | ? |
貴金屬 | ? | ? | ? |
監(jiān)管機構(gòu)合規(guī)篩查 (消費品、包裝、原材料…) | ? | ? | |
環(huán)境土壤篩查 | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo | |
礦石和礦物 | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo | |
金屬鍍層厚度測量 | ? | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC
應(yīng)用于材料可靠性鑒定
應(yīng)用于廢舊金屬回收
應(yīng)用于采礦
應(yīng)用于土壤重金屬檢測
應(yīng)用于合規(guī)性檢測
應(yīng)用于鍍層測厚
應(yīng)用于考古
應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測
比較型號
X-MET8000 Smart
-
X射線管:40kV
-
濾光片:單一
-
檢測器:大面積 SDD
-
高樣本溫度:400ºC
-
符合 IP54 等級
-
Thick Kapton®窗口:保護以預(yù)防探測器的窗戶損壞
-
校準:基本參數(shù)法(FP)
-
內(nèi)置攝像頭 (可選)
X-MET8000 Optimum
-
X射線管:40kV or 50kV
-
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
-
檢測器:大面積 SDD
-
高樣本溫度:100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC(可選)
-
符合 IP54 等級
-
可選窗口防護罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護
-
校準:基本參數(shù)法 (包括輕元素分析)
-
內(nèi)置攝像頭(可選)
-
小光班準直器(可選)
-
針對所有元素(從鎂到鈾)進行優(yōu)先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
-
X射線管:50kV
-
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
-
檢測器:大面積 SDD
-
高樣本溫度:100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC(可選)
-
符合 IP54 等級
-
可選窗口防護罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護
-
校準方法:自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法(可進行追溯)
-
內(nèi)置攝像頭
-
小光班準直器 (可選)
-
針對所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片