XRF全稱X射線熒光光譜儀，由于其檢測速度快、分辨率高、實施無損檢測，所以被廣泛采用。X熒光的基本原理：當一束高能粒子與原子相互作用時，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能，將該軌道電子逐出，對應的形成一個空穴，使原子處于激發狀態。此后在很短時間內，由于激發態不穩定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復到平衡態，以降低原子能級。當較外層的電子躍遷（符合量子力學理論）至內層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產生了X熒光。X熒光的能量與入射的能量無關，它只等于原子兩能級之間的能量差。由于能量差*由該元素原子的殼層電子能級決定，故稱之為該元素的特征X射線，也稱熒光X射線或X熒光。X熒光光譜法就是由X射線光管發生的一次X射線激發樣品，試樣可以被激發出各種波長的特征X射線熒光，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析的方法。該方法是一種非破壞性的分析方法。

X-MET8000系列手持式X射線熒光光譜儀提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準確化學結構分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結果。