一、用途： 
      測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操 
   作方便，適用范圍極廣，主要用途如下： 
  1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距 
    離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。 
  2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模 
    板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 
  3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶 
     金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等 
 二、主要規格 
      x軸移動測量范圍：      50毫米 
      y軸移動測量范圍：      13毫米 
      數顯分辯率：        0.001毫米 
      測量臺轉動范圍：       不限 
      測量臺刻度盤分度范圍：　0° - 360° 
      測量臺刻度盤之分度值：  1° 
      測量臺刻度盤游標讀數示值：　6° 
      測量精度：儀器值誤差(5+L/15)微米 
      儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。 
 注：測量地點溫度變化(20 ± 3）C；L—被測件長度（毫米） 
 
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