Quest X-BRC112E-V 光纖光譜儀
- 公司名稱 必達泰克光電設備(上海)有限公司
- 品牌 B&W Tek/必達泰克
- 型號 Quest X-BRC112E-V
- 產地 美國
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2018/3/20 9:59:27
- 訪問次數 7287
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Quest X光譜儀的介紹
QuestTM X 是B&W Tek推出的高性價CCD光譜儀。它采用高性能的線性CCD陣列檢測器,內設溫度補償,光譜范圍寬達200-1050nm,采用不同的狹縫,光譜分辨率可在0.5-3.0nm之間選擇。QuestTM X在紫外/可見/近紅外端均有著優異的表現,zui寬達200-1050nm的光譜范圍,是紫外,可見和短波近紅外光譜應用的理想選擇。
QuestTM X內設溫度補償,使熱漂移降低至~15計數值/℃, 從而有效降低了基線漂移,穩定了動態范圍。
QuestTM X讀出速度高于2.0兆赫茲,像元數2048,內建16位數字轉換,標配采用USB2.0高速數據傳輸,也可做成增強的串口RS232傳輸,包含外觸發和同步功能,便于系統集成和開發。QuestTM X系列靈活的配置,將滿足更多光譜應用需求和OEM客戶的特殊要求。
Quest X光纖光譜儀的特點:
• 熱漂移~15計數值/℃
• 紫外-近紅外波段(200nm - 1050nm)
• 0.5nm 光譜分辨率
• 16位數字分辨率
• 1ms zui小積分時間
• 2.0MHz讀出速度
• 即插即用USB2.0接口
Quest X光纖光譜儀的應用:
• 紫外可見近紅外 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應用
• 波長檢測
• 吸光度測量
• 反射率測量
Quest X的技術參數:
電源輸入 | USB 供電,<350 mA |
檢測器類型 | 響應增強的2048元線性硅基CCD陣列 |
像元數 | 2048 × 1 像元 @ 14μm × 200µm 每個像元 |
光譜儀F# | 3.6 |
光譜儀光路 | Crossed Czerny-Turne |
動態范圍 | 275:1 |
數字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 |
讀出速度 | >2.0 MHz |
數據傳輸速度 | zui高660譜/秒 (USB 2.0) |
積分時間 | 1 - 65,535ms |
熱漂移 | ~15計數值/ºC |
AUX端口 | 外觸發,輔助端口 |
相對濕度 | 85% ,無冷凝 |
操作溫度 | 5-35℃ |
相對濕度 | 85% ,無冷凝 |
重量 | ~0.34 kg |
尺寸 | 102mm × 67mm × 34mm |
計算機接口 | USB 2.0 / 1.1( RS232) |
操作系統 | Windows XP, Vista (32-bit), Win 7 |