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化工儀器網>產品展廳>測量/計量儀器>表面測量儀器>光學表面分析儀> 三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡

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三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡

參考價￥212800.00
具體成交價以合同協議為準
規格
WLI-Unit白光干涉/8000μm/4nm212800.00元55 件可售

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　　美譜勒科技(上海)有限公司是進的工業分析設備制造商儀景通-EVIDENT(奧林巴斯)在中國地區的授權一級代理商。
　　美譜勒科技作為分析儀器制造商的戰略合作伙伴，構建了強大的技術服務團隊、完善的銷售網絡、廣泛的市場覆蓋面。分別在北京、上海、廣東、浙江、山東、西南、華中、華北、西北等地設有辦事處，旨在為大學、科研院所、航天、航空、船舶、兵器、核工業、電子、機械、冶金、電力、石化、地質、環保等行業數以萬計的中國用戶提供高品質的儀景通-EVIDENT(奧林巴斯)XRF/XRD產品和專業的技術服務。
　　美譜勒科技(上海)有限公司將始終恪守“以誠信之心，行正確之事，成為值得信賴的企業”之經營理念，遵循“全球科技•服務中國”的企業愿景，助力中國創新，促進社會發展。





手持光譜儀

產地類別 進口 應用領域 文體,電子,交通,電氣

  三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡 ，  三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發貨

  三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡 ，  三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發貨

  產品特點與優白光干涉光學顯微
● 實現非接觸式3D表面形狀測量和輪廓測量
可利用白光干涉原理實現非接觸式高精度細微表面性狀測量
（例如：3D形狀測量、3D粗糙度測量）
● 不依賴于光學倍率的高度測量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進行測量
● 高縱橫比測量
不依賴于光學系統的NA進行檢測，支持高縱橫比形狀測量
● 抗干擾震動的高穩定性
● 小型輕便

  三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡 ，  三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發貨

產品陣容
型號           Z向移動范圍    Z向分辨力
WLI-Unit-003   8000μm        -
WLI-Unit-005   8000μm        4nm
WLI-Unit-010   8000μm        4nm




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