產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,化工,地礦,電子,綜合 |
---|
一、產品說明:
我廠生產的UV-B型紫外輻照計執行企業標準Q/HDSDY0003-2014。采用SMT貼片技術,選用高精度低功耗數字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩定,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
二、技術參數:
1、輻照度測量范圍:(0.1~199.9×103) μW/cm2
2、相對示值誤差:±8%(相對于NIM標準)
3、波長范圍λ1,峰值波長λp :(230~275)nm,λP=254nm
4、波長范圍λ2,峰值波長λp :(275~330)nm,λP=297nm
5、紫外帶外區雜光:UV254<0.1%,UV297<0.05%
6、角度響應特性:±5% (α≤10°)
7、線性誤差:±1%
8、換檔誤差:±1%
9、短期不穩定性:±1%(開機30min后)
10、疲勞特性:衰減量<2%
11、零值誤差:滿量程的±1%
12、響應時間:<1秒
13、使用環境:溫度(0~40)℃;濕度<85%RH
14、尺寸和重量:160×78×43mm;0.2kg
15、電源:6F22型9V積層電池(非充電電池)
16、整機功耗:<0.1VA