產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,航天 |
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測試速度 | 測試周期達(dá)到 5S/PCS | 高清顯示器 | 42 英寸屏幕 |
max可測面積 | 2000mm×1000mm | 適用工序 | 層壓前、后組件測試 |
上料方式 | 手動 | 相機(jī)分辨率 | 2400W |
相機(jī)類型 | COMS | 曝光時(shí)間 | 1~30S(可調(diào)) |
太陽能組件EL測試儀 ZQ100
產(chǎn)品介紹
ZQ 系列缺陷檢測用于晶體硅的缺陷檢測,可人工對缺陷進(jìn)行標(biāo)記,保存在本地或遠(yuǎn)端數(shù)據(jù)庫中,PC控制軟件可通過以太網(wǎng)接口實(shí)現(xiàn)與客戶系統(tǒng)對接,傳輸測試結(jié)果和報(bào)警信息, 并可依據(jù)客戶需求定制功能。
性能特點(diǎn)
u 操作簡單
采用無蓋設(shè)計(jì),無需開蓋合蓋,操作方便,層壓前利于返修檢測
u 模塊化設(shè)計(jì)
可選配自動化傳輸模組,滿足 0~600W 范圍組件測試
u 半自動化測試
在離線模式時(shí),可加裝滑軌,提高人工測試效率
u 可測缺陷
黑心片、微隱裂、裂片、破洞、斷柵、焊接缺陷等
u 測試圖片
技術(shù)指標(biāo)
設(shè)備型號 | ZQ100 |
生產(chǎn)指標(biāo) | |
產(chǎn)能 | 5s/pcs(離線典型值) |
MAX可測面積 | 2000mm×1000mm |
適用工序 | 層壓前、后組件測試 |
上料方式 | 手動 |
測量指標(biāo) | |
相機(jī)分辨率 | 2400W |
相機(jī)類型 | COMS |
曝光時(shí)間 | 1~30S(可調(diào)) |
顯示器 | 2K 42 英寸屏幕(可選配移動支架) |
電源類型 | 可編程電源 |
電壓范圍 | 0~60V 連續(xù)可調(diào) |
電流范圍 | 0~20A 連續(xù)可調(diào) |
缺陷類型 | 正常檢測:隱裂/碎片/低效率片/燒結(jié)網(wǎng)紋/材料缺陷/斷柵 |
圖像處理 | EL 圖像顯示:圖像放大、條碼顯示、缺陷標(biāo)記 圖像處理:增益、灰度、亮度、對比度調(diào)節(jié) | |
電氣指標(biāo) | ||
測試接線方式 | 兩線制 | |
軟件功能 | 支持掃碼槍觸發(fā)測試,支持測試數(shù)據(jù)保存、查詢、導(dǎo)出,支持腳 踏觸發(fā),具有過流保護(hù) | |
工作環(huán)境 | 溫度:25℃±10℃; 相對濕度:≤85% | |
電源 | AC220V/50Hz/15A | |
設(shè)備尺寸 | 2200mm*1800mm*1030mm |