二手蔡司場發射電鏡 系列產品

用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡

靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能

將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。

性價比高，裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

用于清晰成像的靈活探測

• 利用先進探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。

• 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

• 利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

自動化加速工作流程

• 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中，從快速成像和節省培訓首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。

• 首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。

• 接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。最后使用工作流程的最后一步，將結果可視化。

高級分析型顯微鏡

• 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。

• 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。

• 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結果。

基于成熟的 Gemini 技術

• Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響，并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

• Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率，通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。

• Gemini 電子束加

用于清晰成像的靈活探測

• 利用新的探測技術表征所有的樣品。

• 在高真空模式下利用創新的 ETSE 和 in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息。

• 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像。

• 利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像。

• 利用 BSD 或者 YAG 探測

配件

SmartEDX

為您帶來一體化能譜分析解決方案

如果單采用SEM成像技術無法全面了解部件或樣品，研究人員就需要在SEM中采用能譜儀（EDS）來進行顯微分析。通過針對低電壓應用而優化的能譜解決方案，您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。得益于：

• 優化了常規的顯微分析應用，并且由于氮化硅窗口優秀的透過率，可以探測輕元素的低能X射線。

• 工作流程引導的圖形用戶界面極大地改善了易用性，以及多用戶環境中的重復性。

• 完整的服務和系統支持，由蔡司工程師為您的安裝、預防性維護及保修提供一站式服務。

拉曼成像與掃描電鏡聯用系統

集成化的拉曼成像

在您的數據中加入拉曼光譜及成像結果，獲得材料更豐富的表征信息。通過擴展蔡司Sigma 300，使其具備共聚焦拉曼成像功能，您能夠獲得樣品中化學指紋信息，從而指認其成分。

• 識別分子和晶體結構信息

• 可進行3D分析，在需要時可關聯SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數據。

• 集成RISE讓您體驗由先進的SEM和拉曼系統帶來的優勢。

用戶友好,操作簡單

SmartSEM Touch是現已有操作系統的附加組件，用于多用戶環境，是一種簡潔的用戶界面。

它同時為操作經驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。

基于實際的實驗室環境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領域。

但是，非專業用戶（例如學生，接受培訓不久的人員或質量工程師）也需要使用SEM獲取數據，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業用戶的需求考慮在內，其用戶界面選項可滿足操作經驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。

二手蔡司場發射電鏡 蔡司Atlas 5-挑戰多尺度分析

Atlas 5可以簡化您的工作：以樣本為中心的關聯環境下為您創建多尺度、多模式的綜合圖片。Atlas 5集強大的硬件和易于操作的軟件為一體，大大拓展了蔡司掃描電鏡（SEM）的應用范圍。

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