GNR,TX2000 全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF
- 公司名稱(chēng) 愛(ài)恩跡科技(廣州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) GNR,TX2000
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/11/1 22:02:15
- 訪問(wèn)次數(shù) 128
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CAS | GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體 | 純度 | GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體 |
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分子量 | GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體 | 分子式 | GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體 |
供貨周期 | 一周 | 規(guī)格 | GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體 |
貨號(hào) | GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源,綜合 |
主要用途 | GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體 |
GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體
GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體
分析原理
TX2000 原理是基于X 熒光能譜法,但與 X 射線能譜形成對(duì)比的是“傳統(tǒng)能譜采用原級(jí) X 光束以 45°角轟擊樣品,而TXRF 采用毫弧度的臨界角。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級(jí) X 光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以一定程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時(shí)減小了載體的背景和噪聲”。
僅需將一小滴樣品(5-100uL 采用合適溶劑溶解的被測(cè)物質(zhì))放置在二氧化硅載體上,溶劑蒸發(fā)后形成一層厚度為幾納米的殘留物,此時(shí)可以一定程度上消除來(lái)自于樣品和樣品基體產(chǎn)生的散射。由于殘留物薄膜厚度極小,在還未產(chǎn)生基體影響時(shí)已經(jīng)完成了檢測(cè)工作,結(jié)合高功率 / 高分辨儀器,通過(guò)內(nèi)標(biāo)監(jiān)控即可輕松完成多元素同時(shí)定量分析的工作。
儀器特點(diǎn)
★ 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺(tái)儀器上
★ 配備創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī),保證精確角度測(cè)量
★ 采用雙靶 (Mo/W) X 射線管,軟件控制自動(dòng)切換原始光束和軔致輻射
★ 高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測(cè)器
★ 極小的樣品與檢測(cè)器間距,保證極低背景干擾和優(yōu)異的靈敏度
★ 超出 50 余種元素的檢出限低于 10pg
★ 氦氣附件可以改善輕元素的檢出限
★ 能譜儀采用全自動(dòng)設(shè)計(jì),操作者可以通過(guò)計(jì)算機(jī)控制全反射條件獲得不同的能量源,控制單色器步進(jìn)電機(jī)和射線管的開(kāi)關(guān)
應(yīng)用舉例
環(huán)境分析: 水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物
制藥分析: 生物體液和組織樣品中的有害元素
法醫(yī)學(xué): 微小證據(jù)分析
化學(xué)純度分析: 酸、堿、鹽、溶劑、水、超純?cè)噭?/span>
油品分析: 原油、輕質(zhì)油、燃料油
染料分析: 墨水、油漆、粉末半導(dǎo)體
材料分析: 揮發(fā)相分解
核材料工業(yè): 放射性元素分析
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