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KIF-FS10A KIF10A 干涉條紋數值化配套元件

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元中銳科集成檢測技術有限公司是工業檢測技術和系統集成商。是日本奧林巴斯(OLYMPUS)株式會社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統顯微鏡,數碼光學顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業顯微鏡的代理商。還是德國UHL產品在北方的總代理。致力于為工業制造和科研領域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識別和檢驗、無損探查、品質管理、計量,過程控制等專業檢測設備,依托強有力的技術資源及完善專業的售后服務與維修體系,向用戶提供專業成熟細致的服務及全面地解決方案 。
服務對象涵蓋科研院校,航空航天、冶金、電力、地質,石油石化等材料研究行業,機械及微機械領域,以及電子領域、光電顯示制造、電子零件制造、半導體、液晶及MEMS,NANO等諸多領域,為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供Z強有力的技術支持。
我們的技術:可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術、精密量測技術、全自動顯微觀察及測量、數字圖象處理和識別,自動控制等。
我們的宗旨:秉承 創新Innovation技術 Technology集成 Integration服務 Service的理念,
堅持專業周到細致的服務,不斷努力創新,更好地創造顧客價值和公司價值,成為工業檢測和質量及過程控制方面的優秀的公司之一。

激光共聚焦顯微鏡

可簡單進行是否合格的判斷
根據具備可任意進行可能規格值的設定,以及合格與否的判定的機能,所以可簡單地在生產線上實現合格與否的判定。

處理時間迅速
與干擾條紋掃描方式的條紋解析軟件相比,處理時間短,可實時快速地實現干涉條紋的解析。

價格低廉
與干涉條紋掃描型的干涉儀系統相比,價格更加低廉。

可在生產車間內管理
因為可以進行數值數據的保存以及畫面數據的印刷,使實際生產線內的良否判定變為可能。

主要用途:
· 透鏡、平面光學部品研磨面的定量評價
· 制造工位內的良否判定管理
· 數值數據的管理

主要規格 

位相計算方法 干涉條紋的形狀(條紋2值化方式)
再現性 PV值λ0.1以下*
(3δ的數值。根據本社測定條件)
干涉條紋解析速度 約1.0秒(根據電腦的性能)
OS Windows XP
主要機能 P-V、RMS、Pwr、As、Coma、Sa3的表示機能(±判別不可)
  規格值設定以及合格與否判定機能
  Mask設定機能
  單個設定、連續設定可能

· 因測定時的設置環境以及條紋形狀的不同,會發生機械性能不能充分發揮的時候,敬請諒解!
· Windows、WindowsXP®是美國軟件公司在美國以及其他國家注冊的商標。
· 該系統并非是保證性的事物。歸根結底而言,請客戶將該系統定位為與在生產線上使用的參照透鏡相比較檢查的系統。



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