TEE-225PF 快速溫變箱半導(dǎo)體低溫試驗(yàn) 功能- 55°C檢測
參考價(jià) | ¥ 200000 |
訂貨量 | ≥80000臺 |
- 公司名稱 廣東皓天檢測儀器有限公司
- 品牌 廣皓天
- 型號 TEE-225PF
- 產(chǎn)地 廣東省東莞市常平鎮(zhèn)常平中信路101號1號樓102室
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/10/18 15:43:58
- 訪問次數(shù) 92
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小型環(huán)境箱,高低溫箱,恒溫恒濕箱,交變濕熱箱,復(fù)層式高低溫箱,三層式恒溫恒濕箱,快速溫度變化箱,冷熱沖擊箱,紫外線老化箱,工業(yè)烤箱,精密烘箱,真空干燥箱,防爆烤箱,淋雨試驗(yàn)箱,擺管淋雨試驗(yàn)裝置,滴水試驗(yàn)裝置,砂塵試驗(yàn)箱,三綜合(溫濕+振動)箱,高低溫低氣壓箱,大型步入式試驗(yàn)箱,步入式恒溫恒濕室,老化房,鹽霧試驗(yàn)箱,復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)室,模擬運(yùn)輸振動臺,跌落試驗(yàn)機(jī)等,
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子,航天,電氣 |
快速溫變箱半導(dǎo)體低溫試驗(yàn) 功能- 55°C檢測
在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時代,半導(dǎo)體器件廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。然而,這些器件在實(shí)際使用過程中可能會面臨極-端的低溫環(huán)境,這對其性能和可靠性提出了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)??焖贉刈兿涞?- 55°C 低溫試驗(yàn)功能就像一把精準(zhǔn)的度量尺,它能夠模擬出嚴(yán)寒的環(huán)境條件,讓半導(dǎo)體器件在可控的實(shí)驗(yàn)環(huán)境下接受低溫的考驗(yàn),從而為半導(dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性保駕護(hù)航。
快速溫變箱半導(dǎo)體低溫試驗(yàn) 功能- 55°C檢測
產(chǎn)品用途
研發(fā)階段
在半導(dǎo)體新產(chǎn)品的研發(fā)過程中, - 55°C 低溫試驗(yàn)功能可以幫助工程師評估不同設(shè)計(jì)方案下的半導(dǎo)體在低溫環(huán)境中的性能表現(xiàn)。例如,通過測試可以確定新型半導(dǎo)體材料的電學(xué)特性在低溫下是否符合預(yù)期,以及芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)在低溫時是否穩(wěn)定,進(jìn)而對設(shè)計(jì)進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。
生產(chǎn)質(zhì)量控制
在批量生產(chǎn)半導(dǎo)體器件時,該功能可用于對產(chǎn)品進(jìn)行抽樣檢測。將生產(chǎn)線上的半導(dǎo)體放入快速溫變箱進(jìn)行 - 55°C 低溫測試,能夠及時篩選出在低溫環(huán)境下可能出現(xiàn)故障的產(chǎn)品,如在低溫下出現(xiàn)短路、斷路或者性能參數(shù)嚴(yán)重偏離標(biāo)準(zhǔn)值的產(chǎn)品,保證出廠產(chǎn)品的質(zhì)量。
可靠性評估
對于已定型的半導(dǎo)體產(chǎn)品, - 55°C 低溫試驗(yàn)可以用來評估產(chǎn)品的長期可靠性。通過反復(fù)進(jìn)行低溫試驗(yàn),模擬產(chǎn)品在整個生命周期內(nèi)可能遭遇的低溫場景,統(tǒng)計(jì)產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的失效概率,為產(chǎn)品的售后保障和應(yīng)用范圍提供數(shù)據(jù)支持。
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證
許多行業(yè)對半導(dǎo)體器件在低溫環(huán)境下的性能有嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范要求。快速溫變箱的 - 55°C 低溫試驗(yàn)功能可以幫助半導(dǎo)體企業(yè)驗(yàn)證其產(chǎn)品是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),例如在航空航天、極地科考等對低溫性能要求極-高的行業(yè),確保產(chǎn)品能夠滿足行業(yè)應(yīng)用需求。
工作原理:
半導(dǎo)體快速溫變箱的工作原理基于逆卡諾循環(huán)。首先,制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高;然后,制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換,將熱量傳給四周介質(zhì);接著,制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功,此時制冷劑溫度降低;最后,制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。通過這種循環(huán),試驗(yàn)箱能夠快速地實(shí)現(xiàn)升溫和降溫,達(dá)到設(shè)定的溫度變化速率和溫度值。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
國際標(biāo)準(zhǔn):
IEC 60068-2-14《環(huán)境試驗(yàn) 第 2-14 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N:溫度變化》:規(guī)定了溫度變化試驗(yàn)的試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備、試驗(yàn)程序等,半導(dǎo)體快速溫變箱的高溫試驗(yàn)可參考此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。
MIL-STD-810G《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》:美國J用標(biāo)準(zhǔn),對電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)方法和要求進(jìn)行了詳細(xì)的規(guī)定,部分半導(dǎo)體產(chǎn)品的高溫試驗(yàn)可能需要滿足此標(biāo)準(zhǔn)。
國家標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 2423.22《環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N:溫度變化》:等效采用 IEC 60068-2-14 標(biāo)準(zhǔn),是國內(nèi)電子電工產(chǎn)品溫度變化試驗(yàn)的主要依據(jù)。
GB/T 5170.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》:規(guī)定了溫度試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)方法和技術(shù)要求,用于確保半導(dǎo)體快速溫變箱的溫度控制精度和性能符合標(biāo)準(zhǔn)。
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