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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)>Apreo ChemiSEM 集成能譜場發射掃描電鏡

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Apreo ChemiSEM 集成能譜場發射掃描電鏡

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號 Apreo ChemiSEM
  • 產地
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2024/9/12 10:23:51
  • 訪問次數 308

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FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結構分析(MSD) 電鏡事業部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創新者和供應商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結合先進的軟件套件,運用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學和電學分析相結合,使客戶的問題變成有效可用的數據。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

背散射電子圖像分辨率 0.8nm@1KV 產地類別 進口
二次電子圖象分辨率 0.7nm 放大倍數 29-200000x
加速電壓 200V-30KVkV 儀器種類 熱場發射
應用領域 環保,石油,地礦,能源,綜合

在研究先進材料時,首先需要對樣品的表面形貌、晶體結構和化學成分有深刻的了解。無論您是想實現下一次技術創新,還是專注于產品研發和生產,這些信息都能幫助您更加了解初始材料的性能,評估缺陷,并確保成品的質量。 Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™ 掃描電鏡實現了技術創新,簡化了分析流程。通過全面集成用于高分辨率成像、元素分析和結構分析的軟件和硬件,Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™ 掃描電鏡提供了一個無縫銜接的簡化工作流程,可以滿足高通量、快節奏的實驗室需求,并且可以對各種樣品進行高效、可靠的分析。



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