菲希爾鍍層測厚儀XDL210

德國菲希爾X-RAY XDL系列，符合德國的出口規(guī)定DEUTSCHE RONTGENVERORDNUNG-ROV，開槽式的測量室設計，可使大塊及平坦的樣品，比測量室還大的樣品，如線路板，都可以測量，能分析多至24種元素。在對焦方面可作自動對焦或手動對焦，對位的十字線是可以調校其刻度及測量點大小的，而且可以調節(jié)照明用的發(fā)光二極管的光亮度，達到更精確的測量結果。FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列，根據客戶的不同需求，提高不同的型號可供選擇，不同之處在于測量臺的操控，是固定的或可調節(jié)的：

XDL 210: 平面樣品平臺，固定的Z軸系統(tǒng)

XDL 220: 平面樣品平臺，馬達驅動的Z軸系統(tǒng)

XDL 230: 手動操作的X-Y樣品平臺，馬達驅動的Z軸系統(tǒng)

XDL 240: 馬達驅動的X-Y樣品平臺，當測量門打開時，工作臺會自動移到放置樣品的位置；馬達驅動的Z軸系統(tǒng)，可編程運行，可用兩種速度運行。

無錫駿展儀器菲希爾X射線測厚儀特點：

堅固耐用的鍍層厚度測量設備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作

固定光圈和固定濾光鏡

用于1mm起大小的測量點

底部C型開槽的大容量測量艙

可編程的臺式設備，用于自動測量

標準X射線管，比例計數器