FlexSEM 1000 II HITACHI日立掃描電子顯微鏡 維翰光電
| 參考價 | ￥ 16858 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 玉崎科學儀器（深圳）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FlexSEM 1000 II
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/8/8 14:32:42
- 訪問次數(shù) 488
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真空泵;離心機,;監(jiān)測儀,真空系統(tǒng),除塵裝置,數(shù)字粉塵儀;粒子計數(shù)器,環(huán)境監(jiān)測設備,環(huán)境測量設備 環(huán)境檢測設備
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,綜合 |
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HITACHI日立掃描電子顯微鏡 維翰光電
HITACHI日立掃描電子顯微鏡 維翰光電
特點
FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現(xiàn)最直觀的視野移動。
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現(xiàn)4.0 nm的分辨率
憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現(xiàn)最高的畫質(zhì)
全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
*1設置到桌面上時，請將機體與電源盒分離
*2選項
小型高性能色譜柱
尺寸雖小，卻具備同類產(chǎn)品中最高的分辨率。
金顆粒沉積
金顆粒沉積
高畫質(zhì)
配備可優(yōu)化放射電流的功能，以便在較低的加速電壓下也能獲得足夠的亮度，而獲得噪點小且清晰的圖像。
儲氫合金
Al-Ni復合材料
可用高畫質(zhì)和快速觀察
搭載GUI和自動調(diào)節(jié)功能，讓初學者也能得心應手。只要按一下自動對焦（AFC）、自動亮度調(diào)節(jié)（ABCC）按鈕，就可以獲得最佳的圖像。（自動調(diào)節(jié)：與以往相比，縮短時間約13秒*3）當然，也可以通過觸屏進行操作。
*3對比日立SEM SU1510
全新定位系統(tǒng)“SEM MAP”
“SEM MAP”功能可有效實現(xiàn)觀察時的視野搜索和樣品定位。根據(jù)內(nèi)置攝像頭所拍攝的圖像，定位樣品，一鍵點擊即可移動到觀察部位。
在SEM MAP上導入的圖像會自動進行粘貼，并以分布圖的形式顯示。
可放置在桌面上的緊湊型電子顯微鏡
寬幅僅為45厘米，緊湊型設計，程度地減小占用空間。機體僅支持AC100 V 3P電源插座。此外，機體和電源盒可以分離，從而大幅度提升諸如桌面設置等的布局靈活性。
FlexSEM 1000 II
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