日立原子吸收分光光度計 偏振塞曼背景校正

日立原子吸收分光光度計 偏振塞曼背景校正

ZA3000系列是應廣大用戶需求研發的新型元素分析儀,秉承日立的偏振塞曼背景校正技術,新開發了其他同類產品所沒有的多種技術,性能更,可獲得更高的靈敏度和更優的準確度。

日立偏振塞曼原子吸收分光光度計,創新永無止境!

ZA3300系列是一款新型火焰原子吸收分光光度計，在確保基本性能（例如：高精度和高靈敏度）的前提下，采用其他原子吸收分光光度計無法實現的技術，提升其性能和可靠性。

火焰原子吸收分光光度計

ZA3300

塞曼背景校正(190-900nm)，

開機即可測樣

提高火焰操作的安全性和便利性

軟件語音系統提示，全程序實時監控

特點：

基本性能提升

190nm~900nm全譜采用塞曼背景校正技術，可扣除所有背景干擾（包含結構背景）

全時雙光束技術，樣品信號和參比信號同時檢測，可獲得穩定基線（±0.0004Abs）

操作簡便可靠

“提升的基本性能”和“新增功能”的實現是基于日立原子吸收分光光度計的直流偏振塞曼校正技術。
所有元素都可實現高可靠性的背景校正，用戶可通過軟件實現相應分析。

分析實例：

火焰法分析糙米中的鎘

偏振塞曼校正法的基線穩定性高，即使當糙米中的鎘濃度低于0.4 ppm時，也可以采用火焰分析法。