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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>元素分析儀>其它元素分析儀> CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

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CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 上海西努光學(xué)科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠(chǎng)商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2024/11/21 13:11:47
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 552

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西努光學(xué)創(chuàng)建于2003 年,主營(yíng)工業(yè)顯微鏡及制樣設(shè)備、鏡片測(cè)定設(shè)備,高速攝像系統(tǒng)、工業(yè)內(nèi)窺鏡、機(jī)器視覺(jué)等工業(yè)及科研應(yīng)用的檢測(cè)設(shè)備及系統(tǒng)集成。
西努光學(xué)秉承“以光學(xué)為核心,為客戶(hù)提供解決方案”的經(jīng)驗(yàn)思路,經(jīng)過(guò)16年的努力,成為眾多企業(yè)、高校科研單位提供各種專(zhuān)業(yè)化的光學(xué)系統(tǒng)解決方案。并于2012 年導(dǎo)入SAP 管理系統(tǒng),通過(guò)系統(tǒng)資源整合,為客戶(hù)提供更優(yōu)質(zhì)、快捷的專(zhuān)業(yè)化服務(wù)。
2016 年,我們積極引進(jìn)檢測(cè)設(shè)備的同時(shí)導(dǎo)入制樣等配套設(shè)備以豐富我們實(shí)驗(yàn)室平臺(tái),以更好的為客戶(hù)提供現(xiàn)場(chǎng)體驗(yàn),從微米到納米滿(mǎn)足客戶(hù)從制樣到結(jié)果分析的一站式體驗(yàn)服務(wù)。

西努光學(xué) 誠(chéng)信為您服務(wù) 專(zhuān)業(yè)為您服務(wù)

垂詢(xún)專(zhuān)線(xiàn):400-6807517  

微信服務(wù)號(hào):cinvoptics/西努光學(xué)

更多信息請(qǐng)登錄:http://www.cinv.cn 

奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡,iX高速攝像機(jī),標(biāo)樂(lè)金相制樣設(shè)備,威爾遜硬度計(jì),navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學(xué)設(shè)備

應(yīng)用領(lǐng)域 綜合


CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng):快速、精確、一鍵分析

CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

需要多臺(tái)設(shè)備配套:

僅憑放大觀(guān)察并不能查明成分

需要使用多臺(tái)設(shè)備或委托外部分析


需要進(jìn)行預(yù)處理:

對(duì)進(jìn)入分析設(shè)備內(nèi)的尺寸有限制,需要破壞或切斷目標(biāo)物

需要進(jìn)行目標(biāo)物表面的導(dǎo)電性處理、分析設(shè)備內(nèi)部的真空處理


對(duì)實(shí)驗(yàn)員素養(yǎng)要求高:

由于分析設(shè)備具有高專(zhuān)業(yè)性,只有少數(shù)人會(huì)操作


只有具備專(zhuān)業(yè)知識(shí),才能根據(jù)檢測(cè)到的元素判斷物質(zhì)

CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)



只需一臺(tái)即可完成

只需一臺(tái)即可快速執(zhí)行從放大觀(guān)察到元素判別   要進(jìn)行元素判別的人員可當(dāng)場(chǎng)進(jìn)行作業(yè)


無(wú)需預(yù)處理

對(duì)目標(biāo)物尺寸沒(méi)有限制,無(wú)需破壞也可直接分析

在空氣中進(jìn)行分析,無(wú)需進(jìn)行導(dǎo)電性處理及真空處理


輕松進(jìn)行元素判別

使用顯微系統(tǒng)觀(guān)察的同時(shí),一鍵點(diǎn)擊即可進(jìn)行元素判別   根據(jù)內(nèi)部數(shù)據(jù)庫(kù),瞬時(shí)推測(cè)檢測(cè)物質(zhì)


CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)



CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)


型號(hào)

CIS- LIBS






LIBS光學(xué)模塊

檢測(cè)原理

激光誘導(dǎo)擊穿光譜法

檢測(cè)性質(zhì)

定性及半定量

檢測(cè)能力

%水平 (取決于元素)

檢測(cè)環(huán)境要求

無(wú), 分析在大氣條件下進(jìn)行 (無(wú), 常溫常壓條件下進(jìn)行)

對(duì)應(yīng)元素

CU、A

SUS、 Fe、 L

C、cr 、Mg、Mn  N

T

Y、zn 、Au等常見(jiàn)元素



激光

激光類(lèi)型

Nd :YAG (半導(dǎo)體泵浦)

激光波長(zhǎng)

355nm

單脈沖能量

<100UJ

脈沖寬度

≤1 . 5ns

點(diǎn)規(guī)格

15um  (typ)

燒蝕深度

1 - 10um (取決于材料



光譜儀

光譜范圍

200至780nm

光譜分辨率

0 . 15nm

信噪比

500


探測(cè)器

CMOS探測(cè)器


激光鏡頭

鏡頭類(lèi)型

專(zhuān)屬規(guī)格透射型鏡頭

鏡頭倍數(shù)

7X

工作距離

18mm






掃描光學(xué)模塊


入射光軸

相差觀(guān)察方法

奧林巴斯BX53M ,  BF明場(chǎng)照明

物鏡

5X, 10X,20X,50X

可選


照明

大功率數(shù)字LED, 軟件可控, 帶記憶模式

偏光系統(tǒng)

偏光00與偏光90o 自動(dòng)數(shù)字切換, 帶記憶模式


數(shù)字成像

相機(jī)型號(hào)

DFK33UX249

相機(jī)分辨率

1920x1200  (2 . 3mp)

相機(jī)靶面


2英寸

幀速

48FPS


掃描載物臺(tái)

載物臺(tái)方向

XYZ三軸

行程范圍

Xy軸125x75mm, z軸35mm

分辨率

0 . 1um(軟件控制)

精度

<5μm

控制方式

軟件自動(dòng)控制+遙桿細(xì)分控制


生成報(bào)告

生成方式

自動(dòng)生成

報(bào)告內(nèi)容

單顆粒材質(zhì)專(zhuān)業(yè)報(bào)告

全顆粒材質(zhì)專(zhuān)業(yè)報(bào)告

電腦

15處理器, 16G內(nèi)存, 硬盤(pán)1TB,顯示器22寸

設(shè)備電源

供電方式

AC 220V50Hz

保修期

整機(jī)12個(gè)月

耐環(huán)境性

使用環(huán)境溫度

+10至45

使用環(huán)境濕度

。至85%RH (無(wú)冷凝)

重量

系統(tǒng)

約50KG

外形尺寸

寬度490mm x高度600mm x縱深840mm


CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)





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