全自動(dòng)探針臺(tái)
- 公司名稱(chēng) 艾博納微納米科技(江蘇)有限責(zé)任公司
- 品牌 ABNER/艾博納
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間 2024/11/13 17:04:16
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 749
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探針臺(tái),二維材料轉(zhuǎn)移臺(tái),金相顯微鏡,步進(jìn)電機(jī),步進(jìn)電機(jī)控制器,原子力顯微鏡,拉曼光譜儀
顯微鏡 | 體式顯微鏡、金相顯微鏡 | CCD | 510萬(wàn)像素 |
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探針座 | 10微米、2微米、0.7微米、0.5微米 | 探針 | GGB探針、韓國(guó)進(jìn)口探針、自制國(guó)產(chǎn)探針 |
全自動(dòng)探針臺(tái)是一種高精度的測(cè)試設(shè)備,它主要用于自動(dòng)化地對(duì)微小的電子器件、集成電路或材料樣品進(jìn)行電學(xué)、物理或化學(xué)性質(zhì)的測(cè)試。與手動(dòng)探針臺(tái)相比,自動(dòng)探針臺(tái)提供了更高的精度、重復(fù)性和效率,特別適用于大批量的測(cè)試需求。通過(guò)自動(dòng)化的操作能夠大大提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和效率,對(duì)于科研和工業(yè)應(yīng)用都有著極其重要的作用。
全自動(dòng)探針臺(tái)產(chǎn)品功能
1、高精度定位
自動(dòng)控制探針的位置,以亞微米級(jí)精度接觸到樣品的特定區(qū)域。
2、電學(xué)性能測(cè)試
測(cè)量電阻、電容、電感、電壓-電流(I-V)特性等。
對(duì)半導(dǎo)體器件如晶體管、二極管的特性進(jìn)行分析。
3、自動(dòng)化測(cè)試序列
通過(guò)編程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的測(cè)試流程,提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
支持批量測(cè)試,適用于工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制。
4、多點(diǎn)探測(cè)
同時(shí)對(duì)樣品的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,適用于復(fù)雜或大面積的樣品。
5、微觀觀察
配備顯微鏡或攝像頭,用于觀察探針與樣品的接觸情況,確保精確對(duì)準(zhǔn)。
6、樣品操縱
樣品臺(tái)通常可以在多個(gè)方向上移動(dòng),包括旋轉(zhuǎn)和傾斜,以適應(yīng)不同的測(cè)試需求。
7、數(shù)據(jù)采集與分析
自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù),配備有數(shù)據(jù)處理軟件進(jìn)行分析和報(bào)告生成。
8、環(huán)境控制
在特定環(huán)境下(如溫度、濕度控制)進(jìn)行測(cè)試,以模擬不同的使用條件。
9、用戶(hù)界面和軟件控制
直觀的用戶(hù)界面和強(qiáng)大的軟件支持,使得設(shè)定測(cè)試參數(shù)、控制測(cè)試過(guò)程和分析數(shù)據(jù)變得簡(jiǎn)單高效。