PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。

本套系統(tǒng)包括：單傾拉伸樣品桿、拉伸控制器、專用拉伸樣品載片。 應(yīng)用方向：研究金屬材料、納米材料、薄膜等的力學(xué)變化機制。

透射電子顯微鏡原位加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學(xué)測量芯片。微加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學(xué)測量芯片可對樣品進行電性質(zhì)測量。并可在進行加熱和電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

● 適用于Thermofisher（FEI）、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射電鏡

● 兼容類型極靴

● 保證透射電鏡原有分辨率

● 拉伸位移：2 mm

● 拉伸速率：0.2 um-50 um/s

● 拉伸步長：小于100nm

• 部分國內(nèi)用戶

  

  部分國外用戶