日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 特點介紹

對光學薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進行測定

無需個人差異，可簡便且短時間內測量

■特點

測定方式

旋轉偏光鏡方式

平行尼科耳旋轉方式

交叉尼科耳旋轉方式

測定波長

590nm

選項：450nm、550nm、630nm

樣品尺寸

□ 30～250mm

厚度20mm以下

測定面積

33mm2（5.8mm見方：感光體面）

測定項目

偏光 軸向方位、方位角、相位差

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 規格參數

測定項目

偏光軸方位、配向角、位相差

測定対象

光學薄膜、偏振板

測定原理

旋轉檢光子法、平行二卷旋轉法、正交二卷旋轉方法

測定時間

約4秒（偏振軸測量）

測定波長

590nm（可選=450nm、630nm等）

樣品尺寸

30mm~250mm，t=20mm以下

系統配置

測定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）

主體尺寸

W380XH390 XD610 mm

本體重量

27kg

偏振軸方位測定相位差測定方式旋轉檢光子法平行尼可旋轉法測定項目吸收軸方位或透過軸方位相位差值、取向角構成角度分辨率0.001°0.0 01°角度精度（3σ）0.006°0.017°相位差分辨率N/A 0.01nm相位差精度（3σ）N/A 0.03nm光（LED）固定試樣臺檢光子A