日本mitaka非接觸式表面粗糙度快速測量裝置 PF系列 特點介紹

通過使用可實現指數測量速度提高 50 倍的掃描 AF 功能和高精度自動 XY 工作臺，我們實現了數十毫米大范圍內的高速測量，測量精度達到亞微米級。

非常適合測量無法使用截面曲線檢測到的精密加工零件的翹曲、成型產品的缺陷形狀以及摩擦學中磨損和劃痕的定量評估。

使用半徑為R0.5μm的激光探頭和高精度XY平臺，我們可以直接測量數十毫米的范圍，測量精度為亞微米級。

高速掃描自動對焦功能可實現廣域/高速測量。

以前需要 1 小時 20 分鐘的測量時間現在只需 6 分鐘。

高靈敏度自動對焦傳感器可捕獲表面的輕微反射光。能夠直接精確測量陡坡和臺階。

日本mitaka非接觸式表面粗糙度快速測量裝置 PF系列 規格參數

一邊在測量畫面上監視工件一邊進行測量

觀察并測量。通過簡單的操作即可測量高度。

通過載玻片的一鍵操作，您可以輕松地在用于觀察的低倍率鏡頭和用于測量的高倍率鏡頭之間切換。

測量概覽

PF-60 由用于 Z 軸高度測量的自動對焦 (AF) 顯微鏡和用于掃描的高精度 XY 平臺組成。

使用AF顯微鏡測量高度方向的位置，通過在XY和平臺上移動工件，捕獲XYZ坐標值并測量形狀。

掃描XY平臺

由于系統使用高精度XY平臺讀取坐標軸，因此可以在可移動范圍（60mm x 60mm）內連續測量。由于沒有視野范圍等測量精度，因此不需要連接測量數據，可以進行大范圍的高精度測量。

點聚焦型

用于高度測量的AF顯微鏡內置的激光沿上圖紅線所示的光路穿過物鏡，在測量工件表面形成圖像，作為半徑為0.5的激光探頭微米。

激光探頭從工件表面反射的光再次穿過物鏡并在 AF 傳感器上形成圖像，但當激光探頭離開焦點位置時，AF 傳感器上的光斑位置也會發生變化。AF傳感器實時檢測光斑的位置位移，并通過操作AF軸機構定位AF顯微鏡，使光斑始終以傳感器為中心。