布魯克電鏡專用原位納米力學系統 PI 85L
- 公司名稱 上海富瞻環保科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/5/22 18:17:01
- 訪問次數 156
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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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儀器種類 | 納米壓痕/劃痕儀(一體化)) | 應用領域 | 綜合 |
布魯克電鏡專用原位納米力學系統 PI 85L
布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學、電學和力學的測試系統,利用SEM的高分辨率,可以直接觀測整個材料動態變化的過程。傳統納米壓痕儀通過光學顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化,中間過程無法觀察到,載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋,甚至單從曲線分析會導致錯誤的解釋。
PI 85L安裝于電鏡,可以精確施加載荷,檢測位移,在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮、加熱、電學和劃痕測試,可以借助電鏡的高分辨率,觀測并記錄整個材料測試過程,觀測材料在力下發生的動態變化,如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。
PI 85L采用Hysitron技術三板電容傳感器,具備載荷和位移同時監測和驅動的功能。具備業界的精度,重復性和低背景噪音等優點。PI 85L擁有多種特色測試功能模塊可供選擇,如動態力學測試、MEMS加熱、拉伸測試、電學測試、納米劃痕等功能模塊。
布魯克高精度納米力學測試系統TI Premier
定量的納米力學
布魯克專門設計的Hysitron TI Premier 納米力學測試儀器在緊湊平臺中提供了業界的、定量納米力學表征技術。以被廣泛驗證的Hystrion 技術為基礎,TI Premier 提供了納米力學和摩擦學測試的工具包。可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規的測量到高ji的研究,同時多樣化的升級選項可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。
原位掃描探針顯微鏡成像
原位形貌成像,大限度地測試定位準確性
納米壓痕
定量模量、硬度、蠕變、斷裂韌性和應力松弛表征
納米劃痕
納米劃痕、抗劃傷性、薄膜附著力和摩擦系數測試
納米磨損
在良好控制的摩擦學條件下,量化磨損量和磨損率
布魯克Hysitron TI Premier高精度納米力學測試系統是布魯克公司研制的自動化、高通量測試儀器,通過納米級位成像,可實現壓痕、劃痕和磨損過程的納米尺度原位可視化表征。Hysitron(海思創)應用其工藝的ZG技術“三板電容傳導”,從源頭上保證了儀器穩定性和靈敏度。使用Hysitron(海思創)納米力學材料檢測系統通過探針可以獲得材料微區的硬度、彈性模量、摩擦系數、磨損率、斷裂剛度、失效、蠕變、粘附力(結合力)等力學數據。后續可選擇升級模塊有高溫臺、電學性能測試、濕度控制模塊、冷臺、與拉曼連用等。不僅在微納米水平上開展力學行為特性的研究,還可以進行納米尺寸上的機械加工。