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表面處理溶液金屬元素含量的測定儀

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    我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。





能量色散X熒光光譜儀,ROHS ROHS2.0 REACH指令檢測儀|化合物分析|元素分析儀|土壤檢測儀|ROHS檢測儀|合金檢測儀|元素分析儀|礦石檢測儀|含鉛量檢測儀

應用領域 環保,化工,生物產業,能源,綜合

表面處理溶液金屬元素含量的測定儀

《表面處理溶液金屬元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法》是一個國家標準,它規定了使用電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP-AES)來測定表面處理溶液中金屬元素含量的方法。以下是對ICP-AES測試儀的簡要介紹:(電感耦合等離子體原子發射光譜法也適用于 鋼鐵 銻、錫含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法)


ICP-AES測試儀概述

ICP-AES測試儀是一種高度靈敏和精確的儀器,主要用于分析各種液體、固體和氣體樣品中的元素組成和含量。它通過電感耦合等離子體(ICP)作為激發源,將樣品中的原子或離子激發至高能級,當它們返回到低能級時,會發射出特定波長的光。這些光信號被儀器捕獲并轉化為元素含量的信息。

ICP-AES測試儀的主要特點

  1. 高靈敏度:ICP-AES測試儀能夠檢測到極低的元素濃度,通??梢赃_到亞微克/升(μg/L)甚至更低的水平。

  2. 高選擇性:每種元素都有其發射光譜,ICP-AES測試儀可以區分這些光譜,從而實現對多種元素的同時分析。

  3. 寬線性范圍:ICP-AES測試儀通常具有較寬的線性范圍,可以在較大的濃度范圍內準確測定元素的含量。

  4. 快速分析:與一些傳統的分析方法相比,ICP-AES測試儀的分析速度更快,通??梢栽趲追昼妰韧瓿梢粋€樣品的分析。

  5. 低樣品消耗:ICP-AES測試儀的樣品消耗量通常較低,這對于珍貴或難以獲取的樣品尤為重要。

ICP-AES測試儀的工作流程

  1. 樣品制備:根據GB/T 24916-2010標準中的規定,對表面處理溶液進行前處理和制備,以確保樣品中的金屬元素能夠被有效地激發并檢測。

  2. 樣品進樣:將制備好的樣品引入ICP-AES測試儀中。這通常涉及到使用霧化器將樣品轉化為細小的液滴,并將其與氬氣等載氣一起送入ICP。

  3. 原子化和激發:在ICP中,樣品中的原子或離子被激發至高能級。

  4. 光譜檢測:當激發態的原子或離子返回基態時,它們會發射出特定波長的光。這些光信號被ICP-AES測試儀的光學系統捕獲并轉化為電信號。

  5. 數據處理:儀器內部的計算機系統會對捕獲到的電信號進行處理和分析,從而得出樣品中各種金屬元素的含量。

注意事項

  1. 在使用ICP-AES測試儀時,需要嚴格遵守相關的操作規程和安全注意事項,以確保測試結果的準確性和人員的安全。

  2. 需要定期對ICP-AES測試儀進行維護和校準,以確保其長期穩定運行和測試結果的準確性。

  3. 對于不同的樣品和測試需求,可能需要調整ICP-AES測試儀的參數和設置,以獲得好的測試效果。


  4. ICP儀器設備詳細介紹:

  5. 儀器可檢測以下元素因測試樣品不同測試元素多少有所不同):

  6. 元素名稱

    元素名稱

    Ag

    Nb

    Al

    Nd

    As

    Ni

    Au

    Os

    B

    P

    Ba

    Pb

    Be

    Pd

    Bi

    Pr

    Ca

    Pt

    Cd

    Rb

    Ce

    Re

    Co

    Rh

    Cr

    Ru

    Cu

    Sb

    Dy

    Sc

    Er

    Se

    Eu

    Si

    Fe

    Sm

    Ga

    Sn

    Gd

    Sr

    Ge

    Ta

    Hf

    Tb

    Hg

    Te

    Ho

    Th

    I

    Ti

    In


    Tl

    Ir

    Tm

    K

    U

    La

    V

    Li

    W

    Lu

    Y

    Mg

    Yb

    Mn

    Zn

    Mo

    Zr

    Na



  7. ICP 原子發射光譜儀技術參數

  8. 產品規格與技術指標

  9. 固態電源

  10. 工作頻率:27.12MHz

  11. 頻率穩定性:<0.05%

  12. 匹配方式:自動匹配

  13. 輸出功率:800W ~1600W,連續可調,電源效率大于65%

  14. 輸出功率穩定性:≤0.05%

  15. 輸出工作線圈內徑25mm、3匝,配三同心外徑20mm的石英炬管

  16. 同軸型噴霧器外徑6mm;雙筒型霧室外徑35mm

  17. 掃描分光器

  18. 光路:Czerny turner型

  19. 焦距:1000mm

  20. 光柵規格:離子刻蝕全息光柵,刻線密度3600L/mm或2400L/mm;刻劃面積(80×110)mm

  21. 分辨率:0.008nm(3600線光柵) ≤0.015nm(2400線光柵)

  22. 掃描波長范圍:3600線光柵:(190~500) nm;2400線光柵:(190~800) nm

  23. 電子測量及控制電路

  24. 光電倍增管規格:R293/R3896

  25. 光電倍增管負高壓:(-50~-1000)V

  26. 光電倍增管電流測量范圍:(10-1210-4A

  27. 信號采集:VF轉換

  28. 計算機系統

  29. 主機:聯想品牌電腦

  30. 顯示器:17英寸液晶顯示器

  31. 打印機:Canon噴墨打印機

  32. 整機技術指標

  33. 掃描波長范圍:190-460nm(4320L/mm光柵),190nm~500nm(3600L/mm光柵),190nm~800nm(2400L/mm光柵);

  34. 測量范圍

  35. a.液體含量:0.01ppm-幾千ppm

  36. b.固體含量:0.001%------70%

  37. 重復性:(即短期穩定度)相對標準偏差RSD≤1.5% ;

  38. 穩定性:相對標準偏差RSD≤2%;

  39. 測試速度:5-8元素/每分鐘

  40. 儀器特點

  41. 可測元素70多種    

  42. 分析速度快,一分鐘可測5-8個元素

  43. 多元素同時分析,客戶可以自由選擇元素數量與安排測量順序

  44. 檢出限低,達到ppb量級,Ba甚至達到0.7ppb

  45. 線性動態范圍寬,高達6個數量級,高低含量可以同時測量

  46. 分析成本低,一瓶氬氣可以用8個小時

  47. 全反射消色差光學系統

  48. 采用凹面反射鏡代替凸透鏡作為光學聚焦元件,解決了不同元素焦點不同而引起的色差問題,同時提高光學系統效率。

  49. 波長范圍寬

  50. 選擇4320條刻線光柵,波長范圍可達190nm-460nm

  51. 選擇3600條刻線光柵,波長范圍可達190nm-500nm

  52. 選擇2400條刻線光柵,波長范圍可達190nm-800nm

  53. 全自動化設計

  54. 自動化程度高,整臺儀器除了電源開關,儀器所有功能都是通過計算機控制,可靠、安全、方便。

  55. 氣體流量自動控制

  56. 進樣系統中,載氣、等離子氣、輔氣全部采用*的質量流量控制器(MFC)來控制,具有流量連續可調、流量穩定等優點,確保了進樣系統的穩定,為光源的穩定提供了堅強的保障。

  57. *的進樣系統

  58. 進樣系統高效、穩定,可配備國內外各種霧化器、霧化室,可以配備高鹽霧化器,耐氫氟酸霧化器等,滿足不同客戶的需求。

表面處理溶液金屬元素含量的測定儀



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