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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網>產品展廳>分析儀器>光譜>瞬態吸收光譜儀>HiYield-EL 東譜科技電致發光量子效率測量儀

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HiYield-EL 東譜科技電致發光量子效率測量儀

具體成交價以合同協議為準

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東譜科技 Oriental Spectra

東譜科技(品牌商標:Oriental Spectra)是一家專業的光電譜學類儀器及技術方案服務商,由國內外高校專業研究人員和行業工程師聯合發起。團隊核心成員均獲得光機電類碩博士學位,具有5-10年國際實驗室及企業研發經驗,擁有出色的光電子前沿科學研究及光機電產品開發的實力。自主研發的系列譜學檢測產品已廣泛應用于材料科學、生命科學、食品科學、環境科學、石油化工、地質學等領域。公司經過多年發展,目前擁有應用于光電子器件性能表征分析的光電產品線和前沿光譜技術(瞬態、超快)為核心的光譜產品線。具備為太陽能電池、光伏材料與器件、發光材料與器件、光催化、半導體材料等行業研究需要提供對應表征測試分析儀器及測試方案的能力。

光電產品線

□ 電致/光致發光量子效率測量儀HiYield

□ 電致發光測量儀NovaLum

□ 多通道發光/光伏器件穩定性測量儀EL-Lab

□ 太陽能電池光伏特性測量儀Sunshine

□ 瞬態光電流/光電壓/光電荷測量儀TranPVC

□ 多功能光電器件測量系統UltraTran

□ 飛行時間法遷移率測量儀FlyTOF

□ 多通道光伏器件穩定性測量儀PVLab

□ 光探測器綜合測量儀FineDet 990

□ 有機發光分子取向儀AngleLum

□ 半導體光源Pina/NanoQ/Mic/Tuna

□ 多功能樣品夾具HiSam

□ 氣體變溫快速換樣系統MagicK

光譜產品線

□ 光電一體化時間分辨光譜儀HiLight 990

□ 穩瞬態熒光光譜儀HiLight HS15

□ 熒光壽命測量儀HiLight T30

□ 瞬態電致發光光譜儀HiLight E60

□ 熒光光譜儀HiLight S20

□ 寬時域時間分辨單光子計數器HiTime

□ 納秒瞬態吸收(激光閃光光解)光譜儀NanoFly

□ 飛秒瞬態吸收光譜儀FemtoFly





光譜儀、光電檢測儀器、激光器、技術服務

產品關鍵詞:電致發光、IVL、電致發光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發光量子產率測量系統、EQE、JV、IV、發光量子產率測量系統 、CIE、色溫、光譜功率分布 λ、輻射通量、光通量、相關色溫(CCT)、顯色指數(CRI)、電功率密度、積分球


▌ 產品簡介

電致發光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平臺中的重要成員,用于對電致發光樣品的發光特性進行精確測量。HiYield 系統能夠以準確的檢測精度對電致發光器件進行縱深測量,得到全面的測量的電致發光效率參數(量子效率EQE等)以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數;同時該系統集成了穩定性測試模塊,可以對器件的老化過程進行測試,且同時得到器件老化過程的全面信息,即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數(通常的老化測試儀,僅對電流、電壓和相對亮度進行測試),典型的包括電致發光效率/量子效率EQE、壽命測試、CIE、CRI、CCT、光譜響應、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強度、峰值波長、FHWM等,廣泛應用于各種類型的電致發光器件測量。




▌ 產品特點

□ 能夠以準確的檢測精度對電致發光器件進行縱深測量,得到全面的測量的電致發光效率參數(外量子效率等)以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數;

□ 集成了穩定性測試模塊,可以對器件的老化過程進行測試,且同時得到器件老化過程的全面信息,即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數(通常的老化測試儀,僅對電流、電壓和相對亮度進行測試);

□ 由軟件控制測試過程,操作便捷,圖表和數據實時顯示;

□ 可快速、可靠對樣品的測試過程進行追蹤;

□ 具有實時測量、預測量、定制測量、掃描測量、時間依賴測量等豐富的測量模式。




▌ 產品功能

□ 效率參數:發光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等;

□ 電學參數:電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率(W)、電功率密度等;

□ 輻射度學:光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等;

□ 色度學:CIE 色度坐標、相關色溫(CCT)、MK-1(mred)、顯色指數(CRI)、RGB 顏色值等;

□ 穩定性測試。

■ 包含測量模式

√ 電壓掃描(含分段掃描、循環掃描等);

√ 電流掃描(含分段掃描、循環掃描等);

√ 恒壓單點測量;

√ 恒流單點測量;

√ 穩定性測量:不同老化時間下測量。




 產品應用

□ 量子點發光二極管(QLED)

□ 有機發光二極管(OLED)

□ 發光二極管(LED)

□ 鈣鈦礦發光二極管(PeLED)

□ 其它各種類型的電致發光器件等




▌ 規格型號

電致發光特性測量系統
系列HiYield-EL
光譜儀
*光譜范圍210-980nm225-1000nm350-1050nm900-1700nm
探測器制冷CCD
系統信噪比1000:1
A/D分辨率16/18 bit
光學分辨率0.14-7.7 nm FWHM
動態范圍85000(典型)
雜散光<0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm
源表
電壓范圍-210V~210V
電流范圍-1.05A~1.05A
*分辨率1pA / 100nV10fA-10nV
積分球
*材料SpectralonPTFESpectraflectBaSO4
*內徑3.3 / 6 / 10 / 15 inch可選
*反射率4001500 nm,大于99%97%@600 nm 97-98%95%
軟件
測量模式?電壓掃描(含分段掃描、循環掃描等);
?電流掃描(含分段掃描、循環掃描等);
?恒壓單點測量;
?恒流單點測量;
?穩定性測量:不同老化時間下測量。
功能參數類別?效率參數(外量子效率、電流效率、功率效率等);
?電學參數:電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率(W)、電功率密度等;
?輻射度學:光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等;
?色度學:CIE色度坐標、相關色溫(CCT)、MK-1mred)、顯色指數(CRI)、RGB顏色值等;
?穩定性測試。
測量夾具
*定制夾具根據客戶樣品封裝設計夾具

*該產品或參數可根據客戶需求靈活配置




▌ 產品特點










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