750175 人工晶體波前測量儀
- 公司名稱 聯合光科技（北京）有限公司
- 品牌 聯合光科
- 型號 750175
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/4/2 10:11:23
- 訪問次數 67
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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
全歐光學WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡，非球面透鏡和光學系統的波前測量，集成了準直系統，擴束或縮束系統，高精度樣品臺，多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理，用于平面、球面、非球面面型的檢測，光學系統像差檢測，輸出激光光束質量檢測，光束動態變化檢測，自適應系統波前的探測，并有針對大口徑光學和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠心鏡頭的全場波前，還可給出被測樣品的面型（PV和RMS），澤尼克系數（Zernike），點擴散函數（PSF），調制傳遞函數，斯特列爾比，楔角。同時，該產品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測，晶體低階和高階的相差，晶體的調制傳遞函數（MTF），晶體的點擴散函數（PSF），晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能，簡單易用，用戶可根據需要進行選擇。
WaveMaster® IOL 2是一款基于波前測量，可用于單焦、環曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。它是一款可以用于研發，也可用于的生產，主要測量屈光度，像差以及基于波前分析計算的快速MTF測量。該設備可支持人工晶體在空氣中及模擬眼環境中測量，也可實現對環曲面人工晶體的MTF測量。
應用范圍
人工晶體在空氣中和模擬眼中的波前檢測
屈光度和散光度的檢測
低階和高階像差（澤尼克分析）的檢測
像質（MTF）檢測
環形人工晶體的軸偏差及標識自動識別
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