760500 紅外焦平面探測器測試系統
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 聯合光科技(北京)有限公司
- 品牌 聯合光科
- 型號 760500
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/3/29 12:53:37
- 訪問次數 87
聯系方式:趙經理010-62112301 查看聯系方式
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
---|---|---|---|
應用領域 | 綜合 |
外焦平面探測器是熱成像系統最重要的核心部件。探測器電路(機芯)的設計是一個新的熱成像系統的關鍵部分。紅外焦平面技術或熱像儀技術方面的專業人員必須精確地了解紅外焦平面探測器參數方面的知識,這是因為紅外焦平面探測器的參數決定了熱像儀系統的性能極限。因此測量紅外焦平面探測器性能的測量設備是研發紅外熱成像系統的關鍵。
通常由探測器生產廠家提供的技術資料給出的信息對于電路設計者來說很有限。有時候廠家提供的參數并不是十分準確。采用改進的控制信號可以提高探測器的性能。結果設計團隊肯要花費幾年的時間來研發針對每種型號焦平面探測器的機芯。當采用不同的焦平面探測器是還需要重復整個過程。在這種情況下需要一個通用靈活的機芯可以與不同廠家的焦平面探測器匹配,并且能夠半自動確定對某種探測器的控制信號。
FT焦平面測量系統是一個模塊化測量系統,它能夠完成如下兩個任務。一是能夠測量焦平面探測器的所有重要參數;而是能夠半自動確定某種探測器控制信號。
紅外焦平面探測器最終的產品(與讀出電路集成的)是現代熱像儀的核心。二維焦平面實際上可以看成是沒有輸入光學和輸出觀察系統的熱像儀。有許多的一系列特性可以用來描述現代二代和三代紅外焦平面。一些參數如MTF、NETD、FPN、非均勻性,相對光譜靈敏度曲線等和描述熱像儀系統的參數是一致的。也有一些參數如串擾、點掃描,來源于傳統分立探測器的特性參數如歸一化NEP和D*是焦平面探測器所有的。
FT測量系統一個模塊化的實驗室內使用的系統。由于采用了模塊化設計,FT測量系統可以方便快速地配置成三個半獨立的測量的工作站放置在實驗室光學平臺上:FT-N,FT-I,和FT-S。
通常由探測器生產廠家提供的技術資料給出的信息對于電路設計者來說很有限。有時候廠家提供的參數并不是十分準確。采用改進的控制信號可以提高探測器的性能。結果設計團隊肯要花費幾年的時間來研發針對每種型號焦平面探測器的機芯。當采用不同的焦平面探測器是還需要重復整個過程。在這種情況下需要一個通用靈活的機芯可以與不同廠家的焦平面探測器匹配,并且能夠半自動確定對某種探測器的控制信號。
FT焦平面測量系統是一個模塊化測量系統,它能夠完成如下兩個任務。一是能夠測量焦平面探測器的所有重要參數;而是能夠半自動確定某種探測器控制信號。
紅外焦平面探測器最終的產品(與讀出電路集成的)是現代熱像儀的核心。二維焦平面實際上可以看成是沒有輸入光學和輸出觀察系統的熱像儀。有許多的一系列特性可以用來描述現代二代和三代紅外焦平面。一些參數如MTF、NETD、FPN、非均勻性,相對光譜靈敏度曲線等和描述熱像儀系統的參數是一致的。也有一些參數如串擾、點掃描,來源于傳統分立探測器的特性參數如歸一化NEP和D*是焦平面探測器所有的。
FT測量系統一個模塊化的實驗室內使用的系統。由于采用了模塊化設計,FT測量系統可以方便快速地配置成三個半獨立的測量的工作站放置在實驗室光學平臺上:FT-N,FT-I,和FT-S。

FT-N:測量紅外焦平面探測器的噪聲和響應特性
FT-I:測量紅外焦平面探測器的成像質量特性
FT-S:測量紅外焦平面探測器的光譜響應特性