760450 可見光-短波紅外焦平面測試系統
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 聯合光科技(北京)有限公司
- 品牌 聯合光科
- 型號 760450
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/3/29 12:50:44
- 訪問次數 92
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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
工作范圍在可見光、近紅外以及短波紅外的電子成像探測器生成的二維電子圖像在工業、國防、安全、科研、環保、醫療等領域有著重要的應用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測器幾乎全部基于硅材料的技術:彩色或者單色制式的CCD、 CMOS. ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探測器的工作波段只局限于可見光波段而單色VIS/NIR探測器的工作波段則可以達到1000nm。
InGaAs成像探測器的工作范圍在SWIR波段:非制冷類型工作在900nm-1700nm;制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探測器在紅外波段(可到1300nm或者更長)具有更高的靈敏度,目前是市場上的新技術。
VIT測試系統是一個可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統,支持硅/黑硅/InGaAs成像探測器所有重要參數的測試。
InGaAs成像探測器的工作范圍在SWIR波段:非制冷類型工作在900nm-1700nm;制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探測器在紅外波段(可到1300nm或者更長)具有更高的靈敏度,目前是市場上的新技術。
VIT測試系統是一個可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統,支持硅/黑硅/InGaAs成像探測器所有重要參數的測試。

VIT測試系統組成 | VIT測試系統測試功能 | ||
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