納米紅外光儀全面的納米級表征

nanoIR3 具有全面的納米級表征能力。波譜（POINTspectra）功能，單激光源可同時提供點波譜和化學成像，加快數據獲取，提升研究的成本效益。高波譜成像，能夠創建表面內的 3D 波譜圖，幫助識別未知物，并導出另行處理。

Bruker 的共振增強 AFM-IR 模式

可提供高性能、高質量的多樣化光譜，幫助識別納米級材料，深入了解材料的變化和成分。共振增強 AFM-IR 是靈敏度高的有機材料納米級光譜分析技術

Tapping AFM-IR 化學成像

nanoIR3 融合了技術，依托多年行業的 Anasys AFM-IR 儀器開發經驗，是性能強的納米級紅外。 Tapping AFM-IR 成像技術可以實現高空間分辨率的化學成像，同時提供優質紅外光譜。無論用戶是想獲得聚合物、薄膜、單層還是微納米污染物的化學成分，都能使用現有的 Tapping AFM-IR 光譜、化學成像和材料性能成像系統快速又輕松地獲得高分辨圖像，該系統適用于材料和生命科學應用