HM-SR-AFM 原子力超分辨聯用系統實現熒光與形貌成像
| 參考價 | ￥ 2600000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 廣州微視光學科技有限公司
- 品牌 微視（HM）
- 型號 HM-SR-AFM
- 產地 廣州市黃浦區永龍大道88號
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/3/27 15:09:47
- 訪問次數 132
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| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 250萬-300萬 |
|---|---|---|---|
| 樣品臺移動范圍 | 10mm*12mmmm*mm | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
| 應用領域 | 生物產業 |
原子力超分辨聯用系統實現熒光與形貌成像
原子力顯微鏡（AFM）是一種高空間分辨率的形貌成像技術，并能進行力學研究，但AFM難以提供分子種類信息。根據STORM和AFM各自的優缺點，提出一種新型的超分辨熒光和形貌顯微鏡（AFM-STORM）聯用技術，同步實現超高分辨的熒光和形貌成像。
原子力超分辨聯用系統實現熒光與形貌成像參數：
聯用系統成像范圍 | 50 mm×50 mm |
AFM顯微鏡分辨率 | 橫向分辨率為 10 nm 垂直分辨率為 0.1 nm |
STORM 成像分辨率 | 20nm |
AFM顯微鏡采集速度 | ＜60s @ 128 point / line |
AFM可測樣品深度 | 6mm |
AFM掃描范圍 | 不小于100mm×100mm×10mm |
AFM測量頭尺寸 | 143mm×158mm×53mm |
AFM測量頭重量 | 1.25kg |
聯用樣品臺行程 | 12mm×12mm |
中心可調整范圍 | 1x1 mm |
測量模式 | 靜態力模式、橫向力模式、動態力模式 |
譜線測量模式 | 力與距離曲線，振幅–距離曲線，電壓–距離曲線 |
樣點數 | 8000 X 8000 |
XY斜率補償功能 | 硬件補償，保證樣品傾斜的準確測量 |
超分辨參數：
可實現直徑200μm明場照明區域的高分辨成像。顯微鏡樣品載物臺、對焦位移均采用高精度電控器件，可實現樣品X、Y兩軸微米級定位和納米級精度對焦調節。顯微鏡主體采用無目鏡的數字圖像預覽模式，可以通過主體前部觸控模塊對當前明場成像進行預覽。觸控模塊具有集成度高、易用性好、用戶交互友好的設計特點，可通過觸控方式實現載物臺位移、顯微鏡對焦、預覽成像參數等功能的控制。顯微鏡具有一個成像相機接口，接口格式為C卡口，可適配多種高性能成像相機產品，通過成像控制軟件的設計，可實現高于50fps的圖像采集速度。
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