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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM)> 布魯克MultiMode-8 高分辨掃描探針顯微鏡

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布魯克MultiMode-8 高分辨掃描探針顯微鏡

參考價 1000000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


北京伊微視科技有限公司是一家專注于提供顯微、膜厚測量以及光電測試設備的企業。

我們致力于為客戶提供全面的顯微設備,涵蓋從毫米到納米級別的多個領域。我們的產品線包括樣品制備設備、體式顯微鏡、數碼顯微鏡、金相顯微鏡、平面度測試儀、3D表面輪廓儀、掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡以及透明晶圓缺陷掃描儀。

此外,我們還提供專業的薄膜測量設備,包括透明/半透明薄膜的反射光譜測量儀、用于納米級別測量的橢偏儀,以及針對不透光金屬鍍膜的X熒光光譜測量儀。

在光電測量設備領域,我們正在不斷拓展我們的產品線,已代理的產品包括Sinton的少子壽命測試和Fluxim測量軟件。

尺有所短寸有所長,每一個品牌,每一臺設備亦如此。在客戶的需求上,提供解決方案,是我們服務的宗旨。我們不僅僅是設備的銷售商,更是為客戶提供解決方案的合作伙伴。



金相顯微鏡,平面度測試儀,3D表面輪廓儀,掃描電子顯微鏡,原子力顯微鏡以及透明晶圓缺陷掃描儀。

產地類別 進口 價格區間 100萬-150萬
儀器種類 其它 應用領域 綜合

MultiMode"是受歡迎的掃描探針顯微鏡,得到客戶的高度認可,迄今為止數以萬計的布魯克MultiMode-8 高分辨掃描探針顯微鏡已經成功安裝使用。有超高分辨率完備的儀器性能,多功能性,以及得到充分驗證的表現和實驗可靠性,莫定了其在AFM領域的Bruker作為生命科學和分析儀器領域出色的LDZ,始終致力于為用戶提供解決方案,總結成功的經驗,不斷創新推出了MultiMode"系列的型號MultiMode8。使用Bruker的技術Peak Force Tapping掃描模式,獲得更多的樣品信息,操作更簡單,性能更*,大大提高了工作效率。

特點:

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l 簡便易行,輕松獲得專業結果

l 功能強大的定量成像模式

l 具有分辨率和測試性能

l 功能完備,適用于各研究領域

l 操作高效簡便,數據精確可靠

應用:

作為AFM儀器領域的LDZ,Bruker竭盡所能地為客戶提供優質儀器產品和測量技術,幫助他們在各領域完成科研工作,獲得出色的實驗數據。Bruke始終秉持為所有的分析任務提供解決方案的理念,基于AFM最基本的操作平臺,勇于創新,開發和生產了具有各種功能的AFM配件,不斷提高儀器的系統穩定性,改儀器的操作性,將AFM功能發揮到JZ,開發出具有更高分辨率、更穩定的控制系統、更簡便的操作模式的新型AFM儀器,鞏固了Bruker在AFM領域的LD地位。

1、提高液體環境下AFM測試功能針對液體環境掃描,布魯克MultiMode-8 高分辨掃描探針顯微鏡配備防漏液掃描管,并且對掃描管配備保修服務。可以選擇開放式或者密閉式的方法向液體池內注液,根據實驗要求選擇不同材料的O型圈以支持其在更多的液體環境下工作。

2、針對掃描模式設計的新型探針Bruker是一家擁有探針工廠的AFM生產商可以根據產品需求,研發和設計用于常規AFM實驗和Bruker的AFM掃描模式的特殊探針,包括常規的硅探針、氮化硅探針和其他特殊材質的探針

3、成套的環境控制配件一些對氧氣或水分敏感的特殊材料,例如典型的有機光伏器件和鋰離子材料,需要水分和氧氣的含量維持在<1ppm 的苛刻環境。當普通的控制腔不能滿足這些條件時,Bruker的turnkey手套箱是解決方案。

備選配件實現測量要求

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1、溫度和環境控制配件Bruker致力于解決各類特殊實驗條件下所面臨的科學問題,配備有溫度控制配件,MultiMode8可以根據實驗需要對樣品進行加熱或者降溫,獲取預期的檢測結果。安裝具有低幅溫控區間的配件,可以在大氣下或者溶液環境中,選擇-35到100℃C區間內的任一溫度對樣品進行加熱或者冷卻。具有高幅溫控區間的配件則可以加熱到250℃℃,可用來觀測高分子材料的相轉變過程。整個過程中,采取氣體保護,防止樣品氧化和針尖污染。另外還專門研發了針對生命科學研究的環境配件,保證研究過程是在生理條件下完成。除了上述的溫度配件,還可以集成或者單獨配備環境控制配件,控制環境中的含氧量、濕度、pH值、CO,濃度以及其他實驗所需特殊條件,幫助您完成更好的研究工作。

2、電化學和掃描隧道顯微鏡MultiMode8可以選配全套的電化學(EC)配件,包括EC-AFM、EC-STM,還有Bruker的掃描電化學勢顯微鏡(SECPM)。與之前提到過的環境控制配件結合,在手套箱中,能夠將測量環境中的水分和氧氣的含量維持在<1ppm的水平,從而實現有機光伏器件和鋰離子電極的原位納米電學和電化學性質測量。




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