X射線衍射儀(XRD) 全晶相辨別晶體分析X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時，在特定的方向上發生衍射現象，經過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線探測器上，最終經過數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

X射線衍射儀(XRD) 全晶相辨別晶體分析是公司自主研發的一款多功能粉末衍射分析儀器，其融合XRD和計算機軟件等多項技術，可快速對粉末、塊狀或薄膜等形態的樣品進行主要物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析及結晶度測定，具有操作簡便、精度高、檢測速度快等特點，為材料研究、生物醫藥、礦物、塑料制品、半導體等眾多領域提供高精度的分析。

X射線衍射（XRD）是一種理想的、非破壞性的、可應用于大部分類型樣品的無損分析方法！
X射線衍射可用于晶相的確定，含量檢測以及原子結構的測定。樣品用量少，消除了可能產生的樣品物相被破壞和性質改變的風險。
在實際應用中，對除X射線衍射外的其他方法，復雜組分樣品的測量一直是一個艱巨的挑戰。對于X射線衍射，衍射圖譜中所有的細節信息都是有價值的，且會被考慮到，并終使樣品表征充分。

儀器采用*技術制造，測角儀測角準確度與精確度均達到*水平。光源與探測器能長時間穩定工作，保證衍射峰位、峰形和強度測量準確、精確。進行物相結構分析，包括：物相含量、晶粒大小判斷、結晶度、奧氏體含量、晶胞測定、二類應力計算、衍射線條指標化、物相結構等分析；薄膜材料分析，小角粒徑分析等。儀器包括高穩定性X射線發生器、高精密測角儀、封閉正比探測器（或SDD探測器、或一維高速半導體陣列探測器）、數據處理軟件、相關應用軟件等。

儀器特點
長壽命X射線管：金屬陶瓷X射線管，具有散熱好、運行功率高（40kV×40mA）、使用壽命長特點
高精密測角儀：衍射角驅動采用伺服電機驅動+光學編碼控制技術，具有定位準確、測量精度高
測角儀內藏式設計，使儀器表現更整潔、美觀、大方，在衍射角度測量范圍內，衍射角度線性度小于0.02°
拓寬衍射儀應用領域的附件齊全：高溫、低溫、多功能等衍射儀各種附件安裝實現“即插即用”,軟件自動識別控制技術，方便操作人員對儀器的使用
射線防護安全可靠：X射線散射線防護裝置更安全可靠，樣品測量時射線防護門自動禁止打開，雙重防護，任何情況下都能避免操作人員受到散射線輻射

應用領域
未知樣品中物相鑒定
混合樣品中已知相定量分析
晶體結構解析（Rievtveld分析）
非常規條件下晶體變化（高低溫）
薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度、電荷密度
金屬材料織構、應力分析

界FRINGE CLASS桌面式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發散狹縫照射在樣品上，樣品臺位于測角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時，在特定的方向上發生衍射現象，經過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線探測器上， 終經過數據處理系統在分析軟件上展現出采集的衍射圖譜。

界FRINGE CLASS是公司自主研發的一款多功能粉末衍射分析儀器，其融合XRD和計算機軟件等多項技術，可快速對粉末、塊狀或薄膜等形態的樣品進行主要物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析及結晶度測定，具有操作簡便、精度高、檢測速度快等特點，為材料研究、生物醫藥、礦物、塑料制品、半導體等眾多領域提供 的分析。

使用

θ-2θ聯動測角系統

θ-2θ耦合聯動測角系統，單軸驅動機構，精約簡省，立志

內置水循環冷卻系統

界FRINGE CLASS內置水循環冷卻系統，無需額外增加冷水機，軟件可實時顯示X射線管中水溫、流量、流速等信息。

適合所有人的XRD

CrystalX在獲得衍射數據后，自動進行物相分析，并給出物相各組分 比，大大降低了使用人員的要求，僅僅需要點擊“開始測試”，其它交給CrystalX 軟件 吧。

安全性

具有在測試過程中自動切斷保護裝置、安全聯動鎖裝置，樣品艙關閉后屬于全封閉性能，操作界面有樣品艙關閉提示功能。

集成式索拉狹縫

集成式索拉狹縫，無任何運動可調部件，增加測角系統的可靠性，從而使得界FRINGE CLASS桌面式XRD可安裝于車載實驗室平臺。

正比計數探測器

正比計數探測器，計數吞吐量≥500KCPS， 之作。

應用場景

生物醫藥

陶瓷、水泥

地質勘探

研究與教育

金屬化合物

化學與催化劑