不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。基于某模塊化設計的特點，Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀適用于各種應用。

測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統

不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。基于模塊化設計的特點，F20適用于各種應用。

Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀能測量什么

薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學常數、均勻性、刻蝕量等

薄膜種類：幾乎所有透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣

薄膜狀態：固態、液態和氣態薄膜都可以測量

薄膜結構：單層膜、多層膜；平面、曲面

膜層范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。

這包括幾乎所有的電介質與半導體材料，例如：

SiNX   TiO2 DLC

光刻膠SU-8 聚合物 有機電致發光器AIQ材料

非晶硅 ITO 硒化銅銦鎵CIGS

軟件功能以使用者為導向

隨設備包含的FILMeasure軟體組合為您提供了極大控制程度并切合您的需求。需要進行更深入的薄膜研究。FILMeasure軟件已內建數干種不同材料的數據庫，也讓您能夠很容易地測量新材料的折射率。

1. 搭配可選配的樣品攝像頭，能在測量的過程中整合測量點位置并識別樣品。

2. 互動式的使者界面能讓用戶選擇想要顯示或隱藏的功能。

3.QFW的歷記錄功能可以讓用戶迅速回復歷史資料，繪制統計資訊及量測趨勢。