英國進口SunScan植物冠層分析儀系統
- 公司名稱 深圳市英飛銘科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/3/11 17:03:21
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產地類別 | 進口 | 感應波長范圍 | 400-700nm |
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價格區間 | 面議 | 儀器類型 | 便攜式 |
儀器原理 | 有效輻射測量法 | 應用領域 | 綜合 |
英國進口SunScan植物冠層分析儀系統
通過測量作物冠層PAR值提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(LAI)。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖 。
原理:
根據冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations),使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數。
軟件計算:
Sunscan系統主要是通過測量冠層截獲的光合有效輻射量(PAR)來計算葉面積指數(LAI),軟件中涉及到的參數有:
直射和散射入射輻射光、葉面積指數、葉片透光率、葉傾角、天頂角、穿透輻射。在這幾個參數中,天頂角是根據當地的時間、經度和緯度來計算的,葉片透光率和葉傾角是需要用戶自己估計的,其他的參數都是直接測量得出的。
組成:
植物冠層分析儀(專業版/無線版),包含 SS1 Sunscan 探頭,SDA2 SunData 軟件,RPDA2掌上數據管理器和防護殼,BF5 日照傳感器,軟件和手冊光盤,BF5-SS1-05 5 米電纜,EXT/8W-055 米延長電纜,SS-TD 可伸縮三角支架和 SCC1 便攜箱.(無線版本帶有無線發射器,不需要線纜連接)
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