納米粒度及Zeta電位分析儀
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- 公司名稱 澳譜特科技(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/1/19 18:24:13
- 訪問次數 3054
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產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發生變化,從而在電學、光學和化學活性等方面表現出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越低,膠體系統穩定性就越差,因此通過測量和調整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩定性。因此,廣泛應用于產品開發、生產、質量控制以及科學研究,以便深入了解產品特性。
技術類型 | Zetatronix?939系列 查看詳情 采用多角度動態光散射技術,提供更高分辨率的粒度測量結果 | Zetatronix?929系列 查看詳情 采用背向動態光散射技術,可以測量高濃度樣品的粒度 | Zetatronix?919系列 查看詳情 采用經典動態光散射技術測量粒度 |
經典動態光散射(DLS) | √ | √ | |
背向動態光散射(BSDLS) | √ | √ | |
多角度動態光散射(MADLS) | √ | ||
測量角度 | 11°、90°、175° | 11°、175° | 11°、90° |
測量類型 | |||
粒度 | √ | √ | √ |
Zeta電位 | √ | √ | √ |
分子量 | √ | √ | |
溫度/時間趨勢 | √ | √ | √ |