顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)
- 公司名稱 復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
- 品牌 Phenom/飛納電鏡
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/1/2 14:40:51
- 訪問次數(shù) 2915
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顆粒尺寸范圍 | 100 nm – 0.1 mm | 顆粒探測速度 | 高達 1000 個/分鐘 |
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測量屬性 | 大小、形狀、數(shù)量 |
顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)
使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng),以快速、 簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析。顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)支持用戶在電鏡操作界面直接收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。超越光學(xué)顯微鏡分析,自動化的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)把可視化分析提高到了一個新臺階,這將在粉末設(shè)計、開發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進一步的探索和創(chuàng)新。
柱狀圖、散點圖和生成的圖像可以選定格式導(dǎo)出,并生成報告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數(shù)量分布或體積分布。散點圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來,以揭示相關(guān)性和趨勢。飛納電鏡的顆粒系統(tǒng)支持用戶獲得他們需要的數(shù)據(jù)。因此,顆粒系統(tǒng)加快了顆粒分析速度,提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
1)聯(lián)機或脫機分析;
2)收集顆粒的屬性數(shù)據(jù),例如當(dāng)量直徑、圓度、長軸短軸比、凸包度等;
3)借助超大視野拼圖軟件,可獲得大量顆粒的分析數(shù)據(jù);
4)先進的識別算法,用戶自由選擇默認設(shè)置或高級設(shè)置。