| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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原子力顯微鏡
原子力顯微鏡（AFM）可進行高精度的粗糙度、臺階高度及微納米級別三維輪廓等測量，同時可以測量相位、電場、磁場、導電力等其他各種高級物理量。
工作原理
激光反射懸臂梁或者稱為光杠桿的原理;激光經過懸臂梁的背面反射到探測器上，懸臂梁前端的針尖在樣品上掃描，隨著樣品的高低起伏變化帶來探測器上信號的變化，經過 ADC 轉換為電信號實現數據輸出得到最終形貌信息或者其他物理量信息。
成像模式
標準成像模式 靜態力模式 橫向力模式 動態力模式 (輕敲模式) 相位成像模式 | 磁學性能 磁場力顯微鏡 | 電學性能 導電探針原子力顯微鏡 (C-AFM) 壓電力顯微鏡 (PFM) 靜電力顯微鏡 (EFM) 開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)
| 機械性能 力譜 力調制 硬度和彈性模量 黏附力 展開與拉伸 力曲線成像 刻蝕和納米操縱 電化學原子力顯微鏡(EC-AFM) |
DriveAFM
DriveAFM是一款旗艦型AFM，穩定而優異的性能使其能滿足高標準的各類需求，在生物及生命科學領域應用廣泛。
CoreAFM
CoreAFM是一款高性價比的AFM，融合了新型柔性導向掃描頭，XYZ樣品臺，攝像頭，主動隔振臺和氣流屏蔽于一個一體化小型儀器中，使得這一完整的AFM系統具有高適配度的緊湊尺寸。該系統配有專為CoreAFM掃描頭開發的全數字24位控制器，具有完善的AFM功能。
NaioAFM
NaioAFM是納米教學和小樣品基礎研究的理想原子力顯微鏡。一體化的袖珍AFM系統提供了優質可靠的性能卻操作方便，價格親民，結構小巧，適用于廣泛場合。
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