一、SD3000A礦石掃描顯微鏡主要優點

1.掃描速度快，每秒3到4張照片的速度進行掃描。

2.有全景預覽相機，可以快速定位掃描區域，并可以多區域分割掃描。

3.高精度Z軸，具備自動對焦功能，快速對焦，光柵閉環回饋，確保全片掃描無虛焦。

4.進口核心偏光附件，確保偏光效果，效果不輸于進口。

5.復消色差高分率物鏡，確保顏色無偏差，顯示更多細節。

6.LED冷光源，使用壽命長，可在高亮度下持續工作。

7.綠版掃描軟件，可隨意拷貝，不受限制。

二、產品特點

1.高質量的照明系統：極度明亮的大功率 LED 照明為明場、暗場、偏振光4500°K的恒定色溫。它為所有亮度級提供了真正的彩色圖像。由于 LED 壽命長、耗能低，因此節省能源的潛能極大。

2.薄片（光片）數字化：將傳統地質類薄片（光片）數字化，進行儲存管理與分析，最終數據便于宏觀與微觀觀察，脫離時間、空間限制。

3.全自動高速成像：一鍵操作，自動掃描，搭載高速掃描臺，高精度、高重復的Z軸對焦，內置光柵編碼器，確保每個視場的對焦精度，圖像質量優異。

三、SD3000A礦石掃描顯微鏡部件介紹

本產品由掃描儀主機、控制箱、計算機、掃描及瀏覽軟件組成。其中掃描儀主機的配置包括：顯微鏡 （含機架、物鏡、目鏡、光源等） 、電動 XY 平臺、電動 Z 軸、相機、 物鏡轉換器、全局預覽模塊。

SD3000的簡單，舒適的操作還通過程度地減少了人為錯誤，提高了可重復性。高剛性的  Y形警惕機構提供的穩定性及系統靈活性；

新的光路設計，LED照明器；

明視野顯微鏡圖像質量；  

透反射兩用研究級顯微鏡；

簡便且符合人體工程學的操作明場，暗場，偏光，微分干涉相襯，熒光觀察可選。

1、掃描臺：

超薄。結構緊湊，人體工程學設計，可更換不同規格夾具。步進電機驅動，X行程80mm，Y行程60mm

分辨率：< 0.05um；

最大速度：50 mm/s；

絕對定位精度/10mm：≤±2μm；

最大負載：3kg

2、手控盒

可用于控制XY、Z軸和物鏡轉換器；

速度、步長可設置；

可用于控制XY、Z軸和物鏡轉換器；

速度、步長可設置。

3、控制箱

可支持多達4軸的控制和物鏡轉換器的控制 

4、此高幀率相機

傳感器型號：Sony IMX264LQR；

快門模式：全局快門；

幀率&分辨率：35.7fps@2448 × 2048動態范圍75dB；

數據接口：USB3.0（USB3.1 GEN1）

四、技術參數

1、主機：

高鋼性的T形鏡體結構的穩定性及系統靈活性。

2、光學系統：

光學系統無限遠色差校正光學系統。

3、三目鏡筒

三檔分光（100:0/50%-50%/0:100），高眼點大視野平場。目鏡PL10X25mm，視度可調。

4、機架：

低手位粗微同軸調焦機構。最大行程30mm 微調精度1微米。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置。內置100-220V寬電壓系統, 雙路電源輸出，采用數字調光，具有光強強度顯示、透射光切換開關, 內置透射光濾色鏡。

5、載物臺：

步進電機XY平臺，行程：80 mm （X軸）x 60 mm （Y軸），最小細分：0,05 μm，單向重復定位精度：≤ 1um

（測試標準ISO230-2）電動Z軸 分辨率：< 0.02 um，內置光柵編碼器，光電限位開關，單向重復精度≤ 0.1 μm。

6、聚光鏡：

阿貝聚光鏡NA0.9  上下可升降  可調孔徑光闌。

7、物鏡：

復消色差高分辨率APO物鏡：10X/0.42;20X/0.75。

8、燈室：

科勒式高亮度LED照明，透、反射通用，預定中心。

9、相機：

快門模式：全局快門；Sony芯片，35.7fps@2448×2048；動態范圍75dB；USB3.0（USB3.1 GEN1）數據傳輸圖像處理器：i7；內存：32G 硬盤：256SDD+2T；顯卡：獨立 4G；顯示器：27寸。

五、產品衍生業務

本產品可以衍生的顯微鏡應用，顯微清潔度，顯微陰極發光，顯微熱臺。

業務一：

· 該系統能自動識別、并判定雜質的三種類型：金屬顆粒、非金屬顆粒、纖維。

· 能自動計算金屬顆粒、非金屬顆粒的數量并按長度等級依據ISO16232進行歸類和判定等級，和計算濾膜上纖維的總長度。

· 該系統還能自動測量并計算出單個顆粒的長度、寬度等尺寸。

· 具備能夠通過自動調整偏振光的硬件支持功能準確區分金屬和非金屬顆粒，能夠將金屬和非金屬顆粒區分正確以便有標準的數據依據進行判定。

· 中文軟件界面和用戶使用手冊。

· 軟件能自動拼接掃描圖像，并存儲整張濾膜的掃描圖像；已存儲的濾膜圖像可隨時調取，并進行重新分析、儲存及自動導出報告，報告模版中顆粒等級可按用戶需要進行設定。掃描結果可手動修改，可切分或關聯任意形狀的顆粒。

· 配備自由行程高精度自動掃描載物臺，有自動手動控制兩種方式。最終通過標準塊來控制掃描臺及設備的總體精度和檢測結果。

· 配備經校驗的顯微鏡標準塊（附校驗證書）和攝像機比例尺校準塊，并在后期的技術支持中提供備件作為校驗周期的備用品，推薦標準塊的校驗周期為兩年一次。

· 配備濾膜專用托架，濾膜放入后無需重新定位，可直接掃描，并能適用于Ф25mm、47mm、50mm等濾紙規格。

· 對于尼龍網格編織膜的掃描數據表現同于表面濾膜的掃描數據，結果不受網格影響。

業務二：

陰極發光是由電子束轟擊樣品時產生的可見光，不同礦物由于含有不同的激活劑元素而產生不同的陰極發光，用來激發并產生陰極發光的裝置叫做陰極發光裝置，把這種陰極發光裝置裝在顯微鏡上則成為陰極發光顯微鏡。陰極發光顯微鏡可以廣泛地應用于巖石、礦物的鑒定以及成巖作用的研究。

根據激發源不同，晶體發光的原因有多種。任何物質吸收了外加能量，都會由于能量增加而處于不穩定狀態，并有自然放出能量的趨勢。如果這些能量以光的形式放出，這就是發光現象，發光時間僅限于激發時間的發光稱熒光，在激發停止后還繼續發光的稱為磷光；用強大的交變電場激發的稱為電致發光，用可見光、紅外光、紫外光、X光來激發的稱為光致發光，由陰極射線管發出的加速高能電子束激發的稱為陰極發光。陰極發光也屬于熒光的一種，因為只有在激發時，發光體才發光。此外還有熱發光、化學能、高能粒子激發而發光等。

引起礦物發光的因素有以下幾種情況：

1、礦物的基本成分引起發光。

2、由于類質同象元素引起發光。類質同象元素在晶體中為不穩定狀態，當授能量給這種晶體時，晶體就會發光。

3、由于礦物的晶體結構變化而引起的發光，這主要是礦物受應力作用之后，使晶體格架發生變形而引起發光。

4、是礦物受到輻射源輻射之后，在可見光、紫外光下可以發光．或在加熱條件下也可以發光。

業務三：

簡稱熱臺。根據不同用途，熱臺有多種型號。有可安裝在偏光顯微鏡，金相顯微鏡的載物臺上的，有直接取代載物臺的，一般用電阻絲作為加熱元件，用熱電偶測量樣品加熱溫度。溫度范圍由室溫至750℃，高者達2000℃左右，低者達-55℃，可用于測定礦物中各種包裹體的均勻化溫度，以確定礦物或礦床形成時的溫度和壓力。用于雙變油浸法中測定礦物的折射率；也可測定礦物脫水時的溫度；測定礦物多形結構的轉變溫度；觀察加熱時礦物光性的變化等。

六、產品拍攝樣片