X線空間分辨率測試卡

廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司生產(chǎn)經(jīng)營各種亞克力實驗裝置及實驗配件，我司也可接受非標定制產(chǎn)品，我司接受來圖、來樣等多種定制方案，在定制亞克力實驗箱體上我們有著一套比較系統(tǒng)的流程和比較成熟的加工工藝，我司在加工亞克力實驗裝置的形狀、尺寸上都可接受定制，在質(zhì)量上我們有著嚴格的質(zhì)量把控，對每件出廠的亞克力產(chǎn)品都要進行嚴格的質(zhì)量檢測。

亞克力產(chǎn)品定制銷售編號：20230918-07。

分辨率測試卡是一種用于設(shè)置和測試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對應(yīng)于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。高分辨率測試卡時候，要求顯示器中高分辨率測試卡的影像與掃描線的方向成45度角，減小掃描線對觀察時候的影響。

線對卡的使用以及應(yīng)用范圍：
一，常規(guī)的無損檢測，也可以用于其他的安檢設(shè)備的圖像成像檢測
第二，用于工業(yè)ct的圖像成像功能檢測
第三，還可以用于一用ct、一用的x射線的相關(guān)設(shè)備的圖像質(zhì)量檢測。
第四，用分辨率測試卡測定x射線成像系統(tǒng)的可視分辨率，成像系統(tǒng)的分辨率，測試成像系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)。
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