徠卡正置偏光顯微鏡助您獲得高質(zhì)量結(jié)果

您需要一些組件來實現(xiàn)偏光研究目標。以下都是重要的組件：

• 無應力光學部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學部件
• LED 照明至關(guān)重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫
• 偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉(zhuǎn)臺幫助您對準樣品和光軸
• 您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務的補償器

Leica DM4 P：服務唾手可得

如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作，可以使用 Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡。

通過編碼組件存儲和調(diào)用信息

• 想要更換物鏡時，可通過照明強度控制和對比度管理器調(diào)用照明強度和光闌的設置。

• 得益于編碼物鏡轉(zhuǎn)盤的存在，攝取的圖像始終得到校準。

辨識感興趣的結(jié)構(gòu)

• 25-mm 大視場為您帶來優(yōu)質(zhì)的概覽圖像。

• 為您展現(xiàn)所需具體信息的往往是低放大倍率下的整體圖，而不是細節(jié)圖 — 比如流動結(jié)構(gòu)、變形結(jié)構(gòu)或冷卻過程造成的帶狀排列結(jié)構(gòu)。

兩種照明物盡其用

您可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光，也可以一次性配置為使用兩種光源。

• 進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。
• 進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質(zhì)薄片、聚合物薄膜或藥品。
• 在地質(zhì)研究等特殊應用中，兩種光都。

當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關(guān)物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。

研究光學屬性

錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關(guān)研究材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數(shù)量、光軸角度和光學特性。

Leica DM4 P 非常適用于錐光法：

• 具有高放大倍率和高數(shù)值孔徑的無應力物鏡是該項應用的條件。

• 使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級 5 的要求，從而獲取優(yōu)質(zhì)結(jié)果。