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化工儀器網>產品展廳>半導體行業(yè)專用儀器>工藝測量和檢測設備>晶圓缺陷光學檢測設備> 半導體晶圓缺陷檢測儀

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半導體晶圓缺陷檢測儀

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上海波銘科學儀器有限公司成立于2013年,是一家專業(yè)從事科學儀器研發(fā)、生產、銷售于一體的高科技技術企業(yè)。公司主要服務于各大高校、科研院所和高*工業(yè)客戶。主要提供光學儀器如光柵光譜儀、熒光光譜儀,膜厚測量儀,探測器響應分析儀、太陽能電池量子效率測試系統(tǒng)等科研實驗室儀器;及光學機械加工設計,電子測量等專業(yè)的解決方案服務。公司以“專注質量、用心服務”為核心價值。希望通過我們的專業(yè)水平和不懈努力,力爭為中國的科研及精密制造事業(yè)貢獻一股力量。

上海波銘科學儀器公司為美國理波公司(Newport)、日本大塚(Otsukael)正式代理商。配有專業(yè)光學技術人員,專注于光學儀器市場的開發(fā)和應用,已經為復旦大學、上海交通大學、上??萍即髮W、南京大學、中國科技大學、北京大學、清華大學、聯影醫(yī)療、思特威電子等用戶提供專業(yè)的服務。

公司成立多年來,我們一直秉承以用戶需求為核心,在專注光學等核心技術市場的同時,已經為超過一百家高校科研院所和企業(yè)提供了成套和部分的解決方案服務。優(yōu)質、用心的服務贏得了眾多用戶的信賴和好評。公司不僅僅提供專業(yè)的光學解決方案服務,同時還建立了完善的售后服務體系。我們相信,通過我們的不斷努力和追求,一定能夠實現與高校、企業(yè)、科研院所的互利共贏!

 

 

 

光學測試系統(tǒng);光源/激光器;光譜儀;光電探測器;電子數據采集器;光學平臺;電動位移臺;手動位移臺;調整架;光學元件

半導體晶圓缺陷檢測儀


半導體晶圓缺陷檢測儀這款高度集成的桌面儀器利用亮場和暗場顯微成像技術,通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。設備主要用于檢測如襯底片和外延片的缺陷,包括位錯、顆粒、凹坑、劃痕和污染等類型的瑕疵,并且可以根據客戶的需求進行定制服務

光學成像系統(tǒng):

10X 遠場消色差長工距顯微鏡頭

0.8X 擴視野相機轉接鏡筒

500萬像素采集相機

LED同軸反射光源

輔助自動聚焦激光傳感器

自動運動平臺:包括4寸,6寸和8寸Wafer載物臺夾具1套


計算機系統(tǒng)





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