Particle Metrix 納米顆粒跟蹤分析儀 ZetaView
- 公司名稱 北京澤匯商貿有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Particle Metrix
- 產地 德國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/4/9 13:50:59
- 訪問次數 639
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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納米顆粒跟蹤分析儀 ZetaView
公司簡介
德國ParticleMetrix公司
德國 Matric公司一直致力于研發和生產顆粒表征的儀器,其總部和銷售及技術支持中心位于德國的梅爾布施;生產和研發中心位于德國的慕尼黑。自公司成立以來,PMX一直致力于生命科學方面儀器的研究,終于在2006年研發出納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView,其主要應用于細胞外囊泡,蛋白質聚集以及納米氣泡等的大小、濃度以及Zeta電位測量。
儀器簡介:
Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術,結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能,讓用戶眼見為實,更加直觀人性化。通過子體積的掃描,來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外,顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。平移擴散常數可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率,可以得到zeta電位。
納米粒子跟蹤分析(NTA)和動態光散射(DLS)
所有的光散射儀器,包括粒子跟蹤技術,都存在一個問題:當顆粒大小低于100nm時,靈敏度會迅速的降低。動態光散射技術的檢測限是0.5nm,對于納米顆粒跟蹤分析,其檢測限是10nm。通常,DLS和NTA的主要區別就在于濃度范圍。對于DLS,當樣品濃度太低時,zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務。相反,對于高濃度的樣品,DLS方法會非常的適合。
測量范圍
測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品,顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm;相應的,如果樣品的散射能力較弱,則檢測下限會變得更大。假如樣品穩定,不會沉淀或漂浮,zeta電位測量的粒徑上限為50微米,對于粒徑測量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計數
顆粒濃度可通過視頻分析得到,并歸一化處理,散射體積對粒徑。可檢測的最小濃度為/cm3,大為/cm3。對于200nm的顆粒,大體積濃度為1000ppm。
準確度和精度
Zeta電位:準確度5mv,精度4mv,重現性5mv;
粒度測試(對于100納米的標準乳膠顆粒):準確度6nm,精度4nm,重現性4nm;
濃度測試(100納米的顆粒,濃度10Mio粒子/ml):準確度0.8 Mio/ml,精度0.5Mio/ml,重現性1Mio/ml;
只要相機設置正確,樣品處理適當,則以上所有的數據均有效。
方法
Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。
技術優勢
• 功能一體化:可一次性完成樣品的粒徑、濃度、Zeta電位和熒光測試;
• 掃描式NTA:無需額外配件,即可自動在樣品池內的11個檢測位置依次完成測試,并自動評估樣品和數據質量;
• 全新的固定式樣品池模塊設計,插入式樣品池設計,無需拆卸,易清洗。
•直觀的軟件:紅綠信號指示可以幫用戶直接判斷當前濃度的樣品是否可以測試。
• 快速測試:1min即可分析1000個左右的樣品顆粒。
• 自動校準&自動聚焦:光學部件可通過儀器軟件實現自動校準與優化,節省了用戶的實驗準備時間,成功避免了可能產生的用戶主觀偏差。
• 熒光分析:儀器配備了超靈敏的CMOS相機和更多的熒光濾光片,具有更高的熒光檢測靈敏度,進一步增強了儀器的熒光檢測與分析能力。
• 儀器的防震動設計提高了視頻圖像的穩定性。
多熒光NTA(F-NTA)
Particle Metrix提供從單激光到多激光的一系列PMX-X30設備,新增加了12位的熒光檢測通道,各設備均可實現不同激光波長之間、散射光模式與熒光模式之間的一鍵切換。PMX-X30系列設備的固定式樣品池模塊設計,既進一步增強了儀器的穩定性和測試的可靠性,又進一步簡化了儀器清洗過程,提高了測試效
主要應用
生物納米顆粒:
• 細胞外囊泡
• 外泌體
• 脂質體&膠束
• 蛋白質聚集體
• 病毒&類病毒顆粒(VLPs)
• 藥物載體
• 熒光標記的納米顆粒
低濃度樣品:
• 納米氣泡
• 納米金屬
• 微量樣品
• 量子點
技術參數