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ScopeX PILOT 浪聲臺式鍍層測厚儀

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蘇州浪聲科學儀器有限公司成立于2012年,一直致力于研究分析和工業儀器技術。伴隨著數十個重大創新,公司在以下領域愈加專業成熟,其中包括薄膜分析(XRF),X射線熒光光譜學(TXRF、EDXRF),X射線晶體學,X射線衍射(XRD),拉曼光譜學(RAMAN),電子顯微學(SEM),激光誘導擊穿光譜(LIBS),X射線光學器件,實驗室自動化,X射線源。

公司充分利用多年積累的專業技術知識,堅持以客戶為導向,不斷的創新,為客戶日益復雜化和多樣化的社會課題以及需求提供集成的分析解決方案。









合金分析儀、土壤重金屬分析儀、rohs分析儀、鍍層分析儀、礦石分析儀、貴金屬分析儀、油品分析儀、便攜式衍射儀等X射線熒光光譜儀

應用領域 綜合 ?元素范圍? Al(13)-Fm(100)

鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
ScopeX PILOT臺式鍍層測厚儀采用下照式設計,搭載*的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術,以及高敏變焦測距裝置,對不均勻、不規則,甚至微小件等形態的樣品,都能夠快速、精準、無損檢測,可輕松應對鍍層領域的表面處理的過程控制、產品質量檢驗等環節中的檢測和篩檢難題,被廣泛應用于珠寶首飾、電鍍行業、汽車行業、五金衛浴、航空航天、電子半導體等多種領域。

浪聲臺式鍍層測厚儀


使用優勢

可選配微焦X射線裝置

測試各類極微小的樣品,即使檢測面積微小的樣品也可輕松、精準檢測。


多準直器/濾光片

多濾光片和多準直器可選或軟件自動切換組合,使得儀器的多功能性得以顯著提升,以靈活應對不同尺寸的零件。


下照式設計

從下往上測量,無需額外對焦,可輕松實現對鍍層樣品的高效測量。


無損檢測

X射線熒光是無損分析過程,不留任何痕跡,即使是對敏感性材料,其測量也是非常安全的。


變焦裝置

可對各種異形凹槽樣品進行檢測,凹槽深度測量范圍可達0~30 mm。


高精度手調X-Y平臺

搭載高精度手調X-Y平臺,最高精度可達25μm,使微區測量更便捷。



應用場景


浪聲臺式鍍層測厚儀

緊固件


浪聲臺式鍍層測厚儀

五金小零件

浪聲臺式鍍層測厚儀

珠寶首飾



浪聲臺式鍍層測厚儀

汽車零部件












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