MH-500 上海恒一高精度顯微硬度計
- 公司名稱 恒一精密儀器有限公司
- 品牌EVERONE/上海恒一
- 型號MH-500
- 所在地上海市
- 廠商性質生產廠家
- 更新時間2023/7/3 10:47:11
- 訪問次數 933
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測定材料 | 金屬硬度計 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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儀器類型 | 臺式 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,冶金,航天,汽車 |
產地 | 上海 |
一、上海恒一高精度顯微硬度計技術規(guī)格
顯微硬度計技術規(guī)格 | ||
型號 | MH-500 | |
載荷 | (A型)gf:10,25,50,100,200,300,500,1000 mN: 98.07 / 245.2 / 490.3 / 980.7 / 1961 / 2942 / 4903 / 9807 | |
(B型)gf:25,50,100,200,300,500,1000,2000 mN:245.2 / 490.3 / 980.7 / 1961 / 2942 / 4903 / 9807 /19614 | ||
加載機構 | 自動加載和自動卸載50 -100μm/秒 | |
保壓時間 | 5 -99 秒 | |
塔臺機構 | 自動轉塔臺 | |
金剛石壓頭 | 維氏壓頭(可選裝努氏壓頭)/同一塔臺可同時安裝兩個壓頭 | |
操作面板 | 彩色觸摸屏面板 | |
物鏡 | 40x,10x(可選:20x,80x ) | |
放大倍數 | 用于測量:400x (物鏡40x和目鏡10x) | |
用于觀察:100x (物鏡10x和目鏡10x) | ||
測量目鏡 | 電子型10x | |
有效測量長度 | 900μm在100x下/230μm在 400x下 | |
最小測量單位 | 0.1μm (0.01μm在TS/CTS下) | |
允許試樣高度 | 90mm | |
允許試樣深度 | 110mm | |
可測試參數 | HV,HK | |
X-Y載物臺 | 手動 | |
臺面尺寸 | 110x110mm | |
有效移動范圍 | 0-25mm(0-50mm可選配) | |
最小分度 | 機械式:1/100 mm(可選配:電子式1/1000mm) | |
照明 | LED冷光源 | |
通訊接口 | RS232/并行口 | |
打印輸出 | 測量數據和統(tǒng)計數據(最da值、最小值、偏差值、均方值、平均值、標準偏差) | |
精度 | 符合:JIS B-7735,ASTM E-384和ISO 146 | |
表面粗糙度 | Ra≤0.4 | |
硬度值轉換 | 符合中國GB/T 1172-1999 | |
照相裝置 | 可安裝攝像系統(tǒng)(選配) | |
尺寸 | W240xD470xH520mm | |
重量 | 約42Kg | |
電源 | 單相AC220V50/60 Hz |
二、高精度顯微硬度計主要特點:
-高分辨率顯微鏡成像系統(tǒng)可清晰高襯度顯示出壓痕及樣品的金相組織;
-精密的機械結構,舒適精確的測量裝置,保證了測量的可靠性和重復性;
-自動轉塔臺提供快速簡潔的操作系列,只要按一下啟動鍵(START)便可以自動完成<物鏡→壓頭→加載→保載→卸載→物鏡>;
-能夠快捷簡單準確的測量材料維氏(HV)/ 努氏(HK)硬度值及轉換成HRC硬度值;
-操控面板功能:加載開始、零位設定、保載時間、燈光調節(jié)、轉換標尺、塔臺位置、數據處理(瀏覽 刪除 打印)、系統(tǒng)設置(測試條件 語言 通訊 工廠設置等);
-塔臺機構可裝4個物鏡,除10倍和40倍標準配置以外,還可選配二個物鏡(5倍、20倍、80倍任選);
-新型雙壓頭塔臺機構,可同時裝置顯微維氏和努氏測量的兩個壓頭,,在測量維氏和努氏硬度時不需要更換壓頭,此兩壓頭采用的獨立調中裝置,確保維氏和努氏壓痕都在中心位置;
-有CCD光學接口可連接電腦在顯示器上成像測量,并可打印非常清晰的照片及圖像;
-精度符中國計量檢定規(guī)程 JJG151-2006 ,GB/T4340.2-2012, ISO/din6507-2和日本工業(yè)標準JIS B-7735美國ASTM E-384。
三、標準配備:
X-Y 手動載物臺:1個 標準測試塊 (700HV1):1個
標準測試塊(400HV0.2):1個 測量顯微目鏡電子型 (10倍):1個
金剛石壓頭HV(內裝):1只 物鏡(10倍內裝):1個
物鏡(40倍內裝):1個 水平調整腳 :4個
水平儀:1個 壓頭罩(內裝):1個
儀器罩:1個 電源線 :1個
輔助工具:1組 使用手冊:1本
附件箱1:個
四、上海恒一高精度顯微硬度計應用范圍:
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬;
薄板、金屬薄片、電鍍層、微波試件;
碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度測量;
適用于平行平面和微波零件及超薄零件的精密維氏測量。