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化工儀器網>產品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線熒光光譜儀(XRF)>EDX9000B 釩渣分析光譜儀

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EDX9000B 釩渣分析光譜儀

具體成交價以合同協議為準

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息，謝謝!


公司簡介：蘇州英飛思科學儀器有限公司，坐落于美麗而現代的蘇州工業園。公司專注于X射線熒光光譜儀的研發，生產和應用。基于多年的技術積累和沉淀，英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態研發和制造技術，包括50瓦，100瓦高壓發生裝置，50瓦光管的封裝工藝，數字多道分析器（DPP），控制電路板的設計和研發，基本參數法（FP）軟件著作權等。

我們不僅能提供整套光譜儀定制服務，而且能夠提供專業而系統的元素成分分析解決方案，以滿足客戶日益嚴苛而高標準的測試需求。

公司英文全稱：Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd

英文縮寫：ESI

公司口號： Simply the best

公司產品：XRF熒光光譜元素分析儀（臺式，便攜式，手持式，全系列光譜儀）

XRF特點：無損測試，快速檢測，準確分析

應用行業

貴金屬，珠寶首飾，稀有金屬

合金元素分析，牌號識別PMI，稀土，有色金屬

礦產，地礦

土壤重金屬

石油，化工(石油中低硫測試，油品中金屬元素分析，船舶用油)

有害元素檢測（RoHS 2.0，玩具，皮革，無鹵分析）

鍍層測厚

催化劑

古董，考古

食品安全，化妝品，藥品重金屬分析

建材，水泥，陶瓷，玻璃

液體及各種粉末等元素測試






光譜儀，熒光光譜儀，XRF，Rohs檢測儀，合金分析儀，測金儀，測硫儀，古董分析儀，礦石分析儀，土壤分析儀，測厚儀，手持式光譜儀，鍍層測厚儀

價格區間 面議 行業專用類型 通用
儀器種類 臺式/落地式 應用領域 環保,石油,地礦,冶金,綜合

EDX-9000B XRF Spectrometer

能量色散X熒光光譜儀

礦產檢測專家

image.png 

 

Simply the Best

>美國AmpTek -SDD探測器, 高分辨率高計數率

>真空測試環境提供優質輕元素檢測效果

>無損元素分析涵蓋11Na to 92U

>適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿

>多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限

>堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

 

 

 

EDX9000B能量色散熒光光譜儀-礦產分析專家

作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX9000B配置了*基于Windows基本參數算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了優質的高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實現從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測試結果，更穩定的儀器性能， 使得EDX9000B成為了客戶進行元素分析的優選工具之一。

image.png 

ESI英飛思EDX9000B光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩定性。

EDX9000B專注于對地質材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX9000B操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應用

>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>石油化工：燃料，潤滑油監測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質等

>刑偵及公安：證據分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

產品特點

作為一款專業為礦產元素分析而設計和生產的光譜儀，EDX-9000B兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優勢主要有：

•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結果

•強大的基于Windows的FP（基本參數算法）軟件降低了基體效應的影響

•50 kV 光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時進行元素和氧化物成分分析

•多重儀器硬件保護系統，并可通過軟件進行全程實時監控, 讓儀器工作更穩定、更安全

•特別設計的光路和真空系統大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性，同時在測試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩定性都有了明顯的提高

•友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

礦產元素檢測專家EDX9000B

>儀器參數

儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大樣品腔：460mm*310mm*95mm

半封閉樣品腔（抽真空時）：Φ150mm×高75mm 

儀器重量: 45Kg

元素分析范圍：Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍：1ppm- 99.99%

探測器：AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測器

多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器

X光管：50W高功率鈹窗光管

高壓發生裝置：電壓最大輸出50kV，自帶電壓過載保護

電壓：220ACV 50/60HZ

環境溫度：-10 °C 到35 °C

 

儀器配置

>標準配置

>可選配置

純Ag初始化標樣

磨樣機

真空泵

壓片機

礦石專用樣品杯 

烘干箱

USB數據線

熔片機

電源線

電子秤

測試薄膜

礦石標準樣

儀器出廠和標定報告

交流凈化穩壓電源

保修卡

150目篩子

 

功能強大而界面友好的測試軟件

image.png 

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量。

軟件內核-基本參數法（FP）可輕松分析未知樣品。

EDX9000B已在工廠預安裝了軟件并進行了數據標定，客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復標定。強大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器，基體自動匹配

>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度

>可實時刷新測量結果

>簡單的流程欄向導可幫助用戶創建新的自定義標定曲線

>可定制化測試報告，一鍵打印

>提供多種數據訪問接口，可兼容LIMS實驗室管理系統

 

磁鐵礦樣品10次測試穩定性報告

測量次數
/元素

Fe(%)

SiO2(%)

TiO2(%)

MnO(%)

Zn(%)

S(%)

P(%)

Pb(%)

K2O(%)

1_1

65.4014

6.6936

0.1123

0.0489

0.0090

0.8309

0.0118

0.0076

0.0684

1_2

65.4336

6.6575

0.1038

0.0465

0.0095

0.9092

0.0121

0.0075

0.0667

1_3

65.3603

6.7127

0.1132

0.0495

0.0093

0.8903

0.0119

0.0071

0.0677

1_4

65.3935

6.7233

0.1278

0.0483

0.0097

0.8303

0.0117

0.0068

0.0684

1_5

65.3812

6.7145

0.1058

0.0493

0.0097

0.8303

0.0117

0.0066

0.0684

1_6

65.3905

6.7421

0.1021

0.0503

0.0097

0.8303

0.0117

0.0065

0.0684

1_7

65.3603

6.7041

0.1075

0.0495

0.0093

0.8903

0.0119

0.0071

0.0677

1_8

65.4161

6.7280

0.1086

0.0461

0.0093

0.8938

0.0115

0.0074

0.0668

1_9

65.4320

6.7036

0.1182

0.0512

0.0096

0.9005

0.0120

0.0079

0.0669

1_10

65.4546

6.7707

0.1072

0.0502

0.0097

0.8868

0.0121

0.0067

0.0677

平均值Average

65.4024

6.7150

0.1107

0.0490

0.0095

0.8693

0.0118

0.0071

0.0677

標準偏差SD

0.0316

0.0300

0.0077

0.0016

0.0002

0.0340

0.0002

0.0005

0.0007

相對標準偏差RSD

0.0483%

0.4466%

6.9348%

3.3142%

2.5743%

3.9090%

1.6512%

6.6142%

1.0337%

測量次數
/元素

Na2O (%)

MgO (%)

Al2O3 (%)

As (%)

Cr (%)

Ni (%)

Cu (%)

Sn (%)

CaO (%)

1_1

0.0203

0.7523

0.5222

0.0065

0.1636

0.0760

0.0476

0.0131

0.6359

1_2

0.0232

0.8134

0.5230

0.0061

0.1584

0.0787

0.0488

0.0114

0.6336

1_3

0.0213

0.8059

0.5407

0.0071

0.1667

0.0796

0.0494

0.0144

0.6345

1_4

0.0216

0.7635

0.5234

0.0072

0.1640

0.0761

0.0485

0.0131

0.6267

1_5

0.0223

0.7815

0.5334

0.0072

0.1640

0.0751

0.0485

0.0131

0.6267

1_6

0.0222

0.7311

0.5512

0.0072

0.1640

0.0741

0.0485

0.0131

0.6267

1_7

0.0212

0.7559

0.5407

0.0071

0.1667

0.0756

0.0494

0.0144

0.6345

1_8

0.0249

0.7737

0.5233

0.0068

0.1576

0.0760

0.0471

0.0131

0.6324

1_9

0.0204

0.7712

0.5123

0.0064

0.1659

0.0750

0.0475

0.0140

0.6241

1_10

0.0236

0.8017

0.5435

0.0071

0.1663

0.0730

0.0489

0.0130

0.6414

平均值Average

0.0221

0.7750

0.5314

0.0069

0.1637

0.0759

0.0484

0.0133

0.6317

標準偏差SD

0.0015

0.0261

0.0123

0.0004

0.0033

0.0020

0.0008

0.0009

0.0054

相對標準偏差RSD

6.6056%

3.3702%

2.3177%

5.8244%

1.9863%

2.5892%

1.6256%

6.5508%

0.8578%




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