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Aquilos 2 Cryo FIB

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2024/8/28 14:04:12
  • 訪問次數 664

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結構分析(MSD) 電鏡事業部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創新者和供應商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結合先進的軟件套件,運用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學和電學分析相結合,使客戶的問題變成有效可用的數據。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

應用領域 電子

Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo FIB 是我們最新一代的 cryo-DualBeam 系統。它專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。

利用 Aquilos 2 Cryo-FIB,您可以憑借自動化工作流程步驟向前邁出革命性的一步,從特定程序化位置產生多個減薄的樣品區域。經過改進的專用冷凍硬件有助于延長運行時間,且污染率極低。了解我們最新的 cryo-FIB 平臺如何確定細胞內部的結構。

生物分子在其細胞環境內的斷層掃描需要用 cryo-FIB 進行高準確度的樣品制備,這可以使用來自集成熒光顯微鏡檢查的信息來實現。現在可用于 Aquilos 2 Cryo-FIB 的 Thermo Scientific iFLM 相關系統將光和電子顯微術結合在一個系統中。這避免了額外的樣品轉移步驟,并使您能夠為冷凍斷層掃描創建一個更精簡的冷凍相關解決方案。iFLM(集成熒光顯微鏡)相關系統將熒光靶標定位在腔室內,讓您可以在一個系統內關聯兩種成像模式,從而確保樣品位于正確的位置。

用 Aquilos 2 Cryo-FIB 制備的冷凍薄片(左)。掃描電鏡圖像與使用 iFLM 相關系統獲得的熒光圖像的疊加(右)。

優勢

Aquilos 2 Cryo FIB自動化

自動化

過夜運行系統,可以利用 Thermo Scientific AutoTEM 軟件自動生產多個減薄的樣品區域。

冷凍提取

冷凍提取

利用我們的高精度冷凍提取解決方案 Thermo Scientific EasyLift 微操作機械手,能夠靶向并提取您的目標結構。

3D 可視化

3D 可視化

使用荷電襯度查看表面下的天然亞細胞結構,并使用 Thermo Scientific Auto Slice and View 軟件鑒別冷凍透射電鏡中的高分辨率斷層掃描的特征。

延長運行時間

延長運行時間

即使是過夜運行,您的樣品也能保持在玻璃化溫度。冷凍硬件和可全向旋轉的冷凍載物臺保護冷凍樣品免受污染,并確保它們在實驗期間保持玻璃化狀態。

主要特點

自動批量冷凍薄片減薄

標記多個目標點(如細胞)以進行冷凍薄片減薄。Cryo AutoTEM 軟件是一種引導式解決方案,可在無人照看的運行條件下自動制備多個薄片,從而提高生產率。

冷凍提取薄片制備

以納米級位置精度從特定目標區域制備薄片。高精度 EasyLift 微操作機械手選件甚至可以從高壓冷凍樣品中提取特定位置區域,例如熒光標記的蛋白質。隨后,可以將這些薄片放在 AutoGrid 載網上,用于冷凍透射電鏡成像以及進一步的蛋白質結構和蛋白質網絡成像。

3D 可視化

利用我們的 Cryo-Auto Slice and View 軟件,您可以連續減薄并對樣品量的橫切面進行成像,繼而從玻璃化樣品采集 3D 圖像。在使用冷凍電子斷層掃描技術觀察冷凍透射電鏡中的超微結構細節之前,此過程將幫助您在正確的亞細胞區域停止減薄并制備薄片。

在一個系統內關聯光和電子

iFLM 相關系統允許樣品直接在 Aquilos 2 Cryo-FIB 的高真空內成像,無需額外執行從外部冷凍光學顯微鏡的轉移步驟。這節省了時間,并降低了樣品污染的風險。可直接在 Aquilos 內定位熒光標記細胞。

面向冷凍斷層掃描的加速和推進服務包

從您購買 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo-FIB 系統的那一刻起,冷凍斷層掃描的加速和推進服務包便開始為您的成功提供支持。從應用支持到系統遠程監控,再到全面維護,我們的數據驅動和實踐服務的結合將幫助您快速實現您想要的結果。

冷凍電子斷層掃描用細胞的制備

Thermo Fisher 冷凍電子斷層掃描工作流程涵蓋了快速冷凍細胞到最終的 3D 可視化。內部細胞區域以納米級分辨率成像,從用 Aquilos 2 cryo-FIB 精確制備的冷凍薄片中采集。

性能數據

電子光學系統
加速電壓范圍:200 V – 30 kV
電子束電流范圍:1.5 pA 至 400 nA
分辨率(使用冷凍載物臺):在 30 kV 時為 1.6 nm,2 kV(室溫下)時為 2.6 nm,2kV(在冷凍溫度下)時為 6.0 nm*
分辨率(使用冷凍載物臺):30 kV 時 7.0 nm
離子光學系統
離子源壽命:1300 小時
電壓:500 V 至 30 kV
電子束電流:1.5 pA – 65 nA,分 15 檔
分辨率(使用冷凍載物臺):30 kV 時 7.0 nm
冷凍載物臺
在低溫下的旋轉角度(共心工作距離):-15° 至 +55°
XY 范圍:110 mm
Z 范圍:65 mm
旋轉:360°(無限)
冷卻時間: <20 分鐘
真空系統
室溫下的腔室真空度: <4e–4Pa
冷凍條件下的腔室真空度: <8e–5Pa



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