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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)> Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡

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Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2024/8/28 13:27:35
  • 訪問次數 994

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結構分析(MSD) 電鏡事業部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創新者和供應商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結合先進的軟件套件,運用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學和電學分析相結合,使客戶的問題變成有效可用的數據。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

產地類別 國產 價格區間 面議
應用領域 環保,化工

    Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡材料表征

先進的材料表征實驗室需要使用新技術,且將分析儀器(包括 SEM掃描電鏡)的性能發揮到頂。這些實驗室中絕大多數都是多用戶使用,且不同用戶的經驗水平不盡相同,同時,掃描電鏡的上機時間非常寶貴,因此必須避免在維護、對中、培訓或圖像優化上花費過多時間。

全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可進行高分辨率成像,并且可以擴展至材料的元素分析。憑借實時元素成像功能,即 Thermo Scientific ColorSEM 技術,可以通過最直觀的界面實時獲取元素組分信息。ColorSEM 技術消除了與典型 EDS聯用的所有復雜操作,為您提供快捷和易用性。

憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(軟件自動光學對中),Apreo 2 SEM 對用戶和實驗室管理人員的要求非常低。此外,Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術,可實現自動電子束對中、消像散和聚焦等操作,這項技術的推出意味著即使是掃描電鏡的新手用戶也可以輕松獲得 Apreo 2 SEM 的性能。此外,Apreo 2 SEM 是一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。大的工作距離不再意味著犧牲成像效果,使用 Apreo 2 SEM,任何人都能容易地獲得出色的結果。


場發射掃描電鏡Apreo SEM的主要特點

優異的空間分辨率及襯度

優異的空間分辨率及襯度

高分辨率——對于大多數樣品都能達到納米或亞納米級別的空間分辨率。采用鏡筒內同步成像、信號過濾、復合透鏡等技術,幫助提升性能,達到最佳的分辨率。

廣泛的樣品適用性

廣泛的樣品適用性

對于多種樣品類型都有樣品靈活性,包括絕緣體、敏感材料、磁性材料等等。這樣的靈活性幫助用戶獲取感興趣樣品的更多的數據。


   利用ColorSEM技術實時獲取定量能譜數據

利用ColorSEM技術實時獲取定量能譜數據

只需指尖輕輕點擊就可以獲取元素信息,實現實時定量面分布,帶來體驗與易用性。

快速簡便的樣品裝載過程

快速簡便的樣品裝載過程

標配的樣品臺可以一次性容納多個樣品,抽真空過程控制到最短時間,保證進樣過程不浪費時間,更加便利地裝載樣品。同時配備自動插拔的壓差光闌(PLA)可以實現高真空與低真空模式之間在毋須開樣品倉的條件下一鍵切換。

   高度自動化

高度自動化

高度自動化技術包含FLASH技術(用于自動圖像微調)、撤銷、用戶教程、圖像傾斜與拼接。

    大工作距離成像

大工作距離成像

市場上在大工作距離(10mm)下仍然保持高空間分辨率(1nm)性能和優異的圖像質量的掃描電鏡,即使對于新手用戶,也極易上手操作。

Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡規格


Apreo 2 S

Apreo 2 C

分辨率

  • 30kV下0.7nm(STEM)

  • 15kV下0.5nm(樣品臺減速)

  • 1kV下0.9nm

  • 1kV下0.8nm(樣品臺減速)

  • 1kV下1.0nm(工作距離10mm,樣品臺減速)

  • 500V下0.8nm(樣品臺減速)

  • 200V下1.2nm(樣品臺減速)

  • 30kV下0.7nm(STEM)

  • 15kV下0.9nm(樣品臺減速)

  • 1kV下1.2nm

  • 1kV下1.0nm(樣品臺減速)

  • 500V下1.2nm(樣品臺減速)

標配探測器

  • ETD、T1、T2、T3、IR-CCD、Nav-Cam+

  • ETD、T1、T2、IR-CCD、Nav-Cam+

PivotBeam

  • 選區電子通道襯度模式(也稱為"搖擺光束"模式)。

  • 不適用

選配探測器

  • DBS、LVD、DBS-GAD、STEM 3+、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼光譜、EBIC 等

ColorSEM技術(選配)

  • 基于能譜儀(EDS)實時定量數據對掃描電鏡圖像進行著色。可提供的數據包含點分析、線掃描、面掃描、譜圖結果及可靠的Noran定量結果

著陸能量范圍

  • 20 eV – 30 keV

樣品臺偏壓(樣品臺減速)

  • -4000V~+600V

低真空模式

  • 選配:樣品倉氣壓范圍10-500Pa

樣品臺

  • 五軸電動馬達臺,XY軸行程范圍110x110mm2,傾斜范圍-15°~+90°,最大樣品重量:5kg(不傾斜)

最大束流

  • 50 nA(選配 400 nA)

標準樣品臺

  • 一款多功能樣品臺,可以容納18個標準釘臺(φ12mm),有三個預傾斜樁,截面樣品臺和兩個STEM載位

樣品倉

  • 340mm內寬,12個端口,最多同時安裝三個EDS(兩個互為180°),EDS、EBSD共面安裝并與樣品臺的傾轉軸正交




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