便攜式FLIM熒光壽命測量TDC

昊量光電新推出緊湊型，USB驅動的便攜式FLIM熒光壽命測量TDC，專為熒光壽命成像和光譜測量而設計。它的尺寸小重量輕，允許極大的便攜性，可以通過USB供電連接使其能夠在便攜式設置甚至戶外使用。TDC卡上的I/O設計是可定制的，一些通道可以配置為熒光采樣或成像重建信號，如像素，線和幀時鐘。此外，信道可用于與其他正在使用的設備同步數據采集，如聲光偏轉器，壓電位移臺和其他一般實驗室設備。此FLIM熒光壽命測量TDC還提供強大的數據重建和分析軟件。

便攜式FLIM熒光壽命測量 TDC主要技術指標：

• < 300 ps單發精度(σ/√2)

• 24或48 ps的蕞小時間bin分辨率

• 1.5 ns死區

• 80MHz蕞大激光同步速率

• < 0.5% RMS微分非線性

• 傳輸速率高達100 M計數/秒

• 每個輸入通道的峰值計數率高達640 Mcounts/s

• 26個通道

• 11 SMA單端輸入LVTTL 50Ohm

• 1 SMA激光觸發(同步)LVTTL 50Ohm信號

• 1 SMA激光觸發輸出(同步輸出)LVTTL 50Ohm用于調制外部脈沖激光源

• 13 USB-C LVDS輸入/輸出可配置

緊湊便攜，USB供電 

熒光壽命成像與光譜，同步各類外圍儀器

強大的熒光壽命軟件

多通道接口

便攜式FLIM熒光壽命測量 TDC軟件特點：

• 實時成像和熒光衰減直方圖數據重建

• 實時FLIM相量圖分析

• 人工智能驅動的相量圖分析技術

• 用于數據采集和重構的軟件API (Rust, C, c++， c#， Python, node.js， .N ET)

• MATLAB, Python, HDF5， .SVG flim相量和成像數據導出

• 云數據存儲

• 通過社交媒體，即時消息，liao天和電子you件分享結果

• 支持平臺:Windows、Linux

便攜式FLIM熒光壽命測量 TDC主要應用：

熒光壽命成像——相量分析法

當引入相量分析方法時，可以很容易地處理FLIM圖像中包含的信息。這種方法允許壽命分布的圖形表示(相量圖)，使FLIM圖像更快地讀取。事實上，FLIM相量圖的解釋很簡單，FLIM與相量的組合使研究人員能夠輕松地在同一樣本中分離不同的壽命種群。

熒光相關光譜（FCS）

熒光相關光譜(FCS)是一種研究和定量分子動力學的技術。顧名思義，FCS是基于熒光分子在觀測量內外擴散時熒光波動的時間相關性分析。它被認為是一種單分子技術，因為熒光分子在探測體積內外的連續波動可以用來確定樣品中一個或幾個物種的單個性質。

熒光共振能量轉移（FRET）

近紅外光譜（NIRS）

此外，我們還提供匹配的單光子探測器，皮秒半導體激光器，CFD等系統基礎組件

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