化驗礦石中元素化學成分含量儀器設備
| 參考價 | ￥ 129000 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
- 公司名稱 深圳市天創美科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/7 20:13:56
- 訪問次數 1103
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| 應用領域 | 環保,地礦,建材,冶金,綜合 |
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化驗礦石中元素化學成分含量儀器設備
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規定的有害物質：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、醫療器械重金屬含量測試、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。現在對于礦石檢測儀器進行介紹。
礦石是礦產冶煉的原材料，其元素含量的測定對于選礦以及冶煉加工至關重要。各類礦石中主量元素以及微量元素的測定以前通常采用化學滴定法和濕化學分析法（一般指實驗室使用的AAS和ICP儀器等），之后X熒光光譜法也得到了一定程度的應用。但在實際的測試過程中各有利弊。各自優缺點如下：
1. 原子吸收光譜法（AAS）
原子吸收光譜法是20世紀50年代創立的一種新型儀器分析方法，它與主要用于無機元素定性分析的原子發射光譜法相輔相成，已成為對無機化合物進行元素定量分析的主要手段。這種方法根據被測元素的基態原子對其原子共振輻射的吸收強度來測定試樣中被測元素的含量。AAS法檢出限低，靈敏度高，精度好，分析速度快，應用范圍廣（可測元素達70多個），儀器較簡單，操作方便等。火焰原子吸收法的檢出限可達到10的負9次方級（10ug/L），石墨爐原子吸收法的檢出限可達到10ug/L，甚至更低。原子吸收光譜法的不足之處是多元素同時測定尚有困難。
2. 原子熒光法（AFS）
原子熒光光譜法是通過待測元素的原子蒸氣在特定頻率輻射能激發下所產生的熒光發射強度來測定待測元素含量的一種分析方法。原子熒光光譜法雖是一種發射光譜法，但它和原子吸收光譜法密切相關，兼有原子發射和原子吸收兩種分析方法的優點，又克服了兩種方法的不足。原子熒光光譜具有發射譜線簡單，靈敏度高于原子吸收光譜法，線性范圍較寬干擾少的特點，能夠進行多元素同時測定。原子熒光光譜法的檢出限比原子吸收法要低，譜線清洗干擾少，靈敏度較高，線性范圍大，但是測定的金屬種類有限，可用于分析汞、砷、銻、鉍、硒、碲、鉛、錫、鍺、鎘鋅等11種元素。現已廣泛用環境監測、醫藥、地質、農業、飲用水等領域。
現已研制出可對多元素同時測定的原子熒光光譜儀，它以多個高強度空心陰極燈為光源，以具有很高溫度的電感耦合等離子體（ICP）作為原子化器，可使多種元素同時實現原子化。多元素分析系統以ICP原子化器為中心，在周圍安裝多個檢測單元，與空心陰極燈一一成直角對應，產生的熒光用光電倍增管檢測。光電轉換后的電信號經放大后，由計算機處理就獲得各元素分析結果。
3. 紫外-可見分光光度法（UV）
其檢測原理是：重金屬與顯色劑—通常為有機化合物，可與重金屬發生絡合反應，生成有色分子團，溶液顏色深淺與濃度成正比。在特定波長下，比色檢測。
4. X射線熒光光譜法（XRF）
X射線熒光光譜法是利用樣品對x射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡單、可分析元素范圍廣、譜線簡單，光譜干擾少，試樣形態多樣性及測定時的非破壞性等特點。它不僅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可進行微量元素的測定，其檢出限多數可達10-6。與分離、富集等手段相結合，可達10-8。測量的元素范圍包括周期表中從F-U的所有元素。多道分析儀，在幾分鐘之內可同時測定20多種元素的含量。x射線熒光法不僅可以分析塊狀樣品，還可對多層鍍膜的各層鍍膜分別進行成分和膜厚的分析。但對于測試礦石而言，可以定性半定量。測試礦石中高含量元素效果好。
5. 電化學法—陽極溶出伏安法
電化學法是近年來發展較快的一種方法，它以經典極譜法為依托，在此基礎上又衍生出示波極譜、陽極溶出伏安法等方法。電化學法的檢測限較低，測試靈敏度較高，值得推廣應用。如國標中鉛的測定方法中的第五法和鉻的測定方法的第二法均為示波極譜法。
陽極溶出伏安法是將恒電位電解富集與伏安法測定相結合的一種電化學分析方法。這種方法一次可連續測定多種金屬離子，而且靈敏度很高，能測定10-7～10-9mol/L的金屬離子。此法所用儀器比較簡單，操作方便，是一種很好的痕量分析手段。我國已經頒布了適用于化學試劑中金屬雜質測定的陽極溶出伏安法國家標準。
6. 電感耦合等離子體法
(1)電感耦合等離子體原子發射光譜法（ICP-AES）
高頻感應電流產生的高溫將反應氣加熱、電離，利用元素發出的特征譜線進行測定譜線強度與重金屬量成正比。ICP-AES法靈敏度高，干擾小，線性范圍寬，可同時或順序測定多種金屬元素成分。這種儀器設備常用到礦石成分的高精度測試。
(2)電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）
將電感耦合等離子體與質譜聯用，利用電感耦合等離子體使樣品汽化，將待測金屬分離出來，從而進入質譜進行測定，通過離子荷質比進行無機元素的定性分析、半定量分析、定量分析，同時進行多種元素及同位素的測定，具有比原子吸收法更低的檢出限，是痕量元素分析領域中好的方法，單價格昂貴，易受污染。這種儀器設備在礦石成分測試中用的不多。
AAS和ICP都是實驗室使用的高精度高穩定性測試金屬元素含量儀器設備。
下面對X熒光光譜儀、ICP儀器設備做簡單介紹：
X射線熒光光譜分析儀（手持式）：
儀器性能
超高的檢測精高。
超高的穩定性，超高的重復性。
優異的線性相關性。
銠元素陽本身就提高了2倍檢測鎂元素的結果。
超大型SDD硅漂移探測器的使用將從鎂到硫元素的檢測下限/精度提高了四倍。
超大型SDD硅漂移探測器的使用提高了五倍銀元素的檢測下限，兩倍鎘元素的檢測下限
采用了重新設計的射線管、無高壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
結構更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，對于某些應用信號提高了~40%.
新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測樣品，具有8 個濾波器，可適應配置，不同的元素采用不同的濾波器，產生分析效果。
超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計，儀器頂部有專用的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩定，從而故障率極低。
超大型SDD硅漂移探測器具有驚人的計數率,高達250000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數據的能力高12.5倍。
內置的氣壓計可以糾正氣壓，氣壓計壓力感應, 可根據不同的壓力調整，從而是檢測值更加準確，儀器預設海平面，用戶上山或者下到一個礦里測試，無需再次校準，這點對輕元素分析很重要。
內置的加速器可探測運動和震動，使儀器不用時待機，拿起時工作。
真空系統（選配）：真空系統可提高Mg;Al;Si;P;S等輕質元素的檢測下限。
智能接駁座可對額外電池充電、儀器內置電池同時充電并顯示充電進度，接駁座能連接電腦交換數據，可讓儀器即時標準化，儀器隨時待命狀態。
儀器即使在開機狀態下也可更換電池而并不需要關機，在系統運作中拔掉電池，有超過30秒的時間可以插入一個新電池。
儀器開機并不需要標準化，可以直接測試，標準化僅僅是可選項。
儀器外殼采用鋁合金、塑膠設計，堅固耐用，手柄軟膠設計，手感好,更適合長時間使用。
儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，一鍵式按鈕設計，即使長時間操作也無疲勞感。
可選配GIS數據采集手簿TRIMBLE，通過Arcpad軟件將數據與GPS實現綁定，可將儀器測試點的礦化信息通過藍牙傳到TRIMBLE上,再與TRIMBLE上自動產生的經度、緯度、海拔進行連接,實現測試信息與GPS同步處理。
數據與GPS同步輸出，可在每一個測試結果中自動附加GPS信息,這些結果可以被專業的地球物理分析軟件自動引用。
GPS可以實現用戶自定義。
選配GIS數據采集手簿TRIMBLE產生的數據可以很容易地被ioGAS軟件引用，它能進行各種統計，繪制地質3D調查圖，能產生可搜索文件。通過可以很容易找到實景地圖，Explorer測試的每一個點皆可以顯示在屏幕實際地圖中,只要選取屏幕地圖中的點就可以查看分析數據與GPS數據。
工業級可觸摸的顯示屏與主機一體化密封設計，可承受野外惡劣的工作環境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚的礦山環境中長時間正常工作。
儀器技術性能
真正實現在現場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的ppm含量與百分比含量。
只需將礦石分析儀直接接觸待測礦石表面，無須等待和花費時間即可現場確定礦石等級。
被檢測的樣品的對象可以是礦石、巖石、礦渣、碎片;土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層;廢水、廢油等等的固體、液體物質。
快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別元素。
用戶化windows CE 6.0系統驅動的微電腦顯示系統使所有功能皆可現場完成，用戶化windows CE僅保留有windows與Delta系統有關的性能，使程序更具靈活性。
無需借助電腦，可在現場隨意，查看，放大相關元素的光譜圖。
防塵,防霧,防水：一體機設計，軟膠與塑膠部件凹凸槽構造設計，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作。
超大功率。40KV，100mA高達4W的大功率X射線管技術使儀器具有更低檢測下限。
腰帶、槍套、肩帶能將儀器牢牢地固定在你的腰部，可在野外活動自如。
更高的檢測精度，多次測試的平均值統計功能可有效地提高儀器的檢測精度。
超大的圖標顯示，菜單式驅動，微電腦WINDOWS系統使儀器操作更加簡便。
電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。
儀器元素分析范圍
可分析從從鎂(Mg)到钚(Pu)之間的所有83種元素。
儀器分析模式與元素種類 | ||
分析模式 | 分析元素 | |
元素分析范圍 | 分析外圍：從12號元素Mg到94號元素PU范圍內的34種基本元素，在以上范圍內，可以根據客戶需要更換其他元素。 | |
Mining模式 （%含量） | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Pb, Bi等19元素。 | |
Two beam mining模式 （%含量） | Mg, Al, Si, P, S, Cl、K、Ca、Ti、Mn等10元素 | |
Soil模式 （ppm含量） | Beam1 | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, Pt, Au, Hg, Pb 等23元素 |
Beam2 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Hg, Pb, Bi, Th, U等24元素 | |
Beam3 | P、S、Cl、K、Ca、Ti、Cr 、Mn、Fe、I、Ba 等11元素 | |
儀器技術規格
項目 | 元素檢測儀 |
環境要求 | 環境濕度0~95%；環境工作溫度-20℃ ~50℃；亮黃、黑色、銀白色相間，非常適于野外作業。 |
激發源 | 大功率微型直板電子X射線管，內置10kV~40kV多段可選擇的電壓；無高壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。 |
射線管靶材 | Rh、Au靶 |
X射線探測器 | 高性能，高精度，高靈敏度超大型SDD硅漂移探測器 |
冷卻系統 | 采用了Peltier恒溫冷卻系統，控測器在-35℃下工作，保證儀器的檢測精度，和不受外界溫度的影響 |
濾波器 | 八個濾光片可自動切換 |
電壓、電流與功率 | 電壓10~40kv,電流100~200ua。低電壓15kV時,可達200Ua，功率可達4W。 |
光譜束 | 五個光束段，不同的元素采用不同的電壓與電流，產生分析效果。 |
氣壓補償 | 內置氣壓計，不同海拔可以自動補償，當戶外或地下操作時不用進行校正，檢測結果更加好。 |
加速器 | 內置的加速器可探測運動和震動，使儀器不用時待機，拿起時工作 |
真空系統（選配） | 真空系統可提高Mg;Al;Si;P;S等輕質元素的檢測下限 |
智能接駁座 | 可對額外電池充電、儀器內置電池同時充電并顯示充電進度，接駁座能連接電腦交換數據，可讓儀器即時標準化，儀器隨時待命狀態 |
開機換電 | 儀器即使在開機狀態下也可更換電池而并不需要關機，時間可達30秒。 |
標準化 | 儀器開機并不需要標準化，可以直接測試，標準化僅僅是可選項 |
平衡性 | 儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，一鍵式按鈕設計，即使長時間操作也無疲勞感 |
散熱性 | 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計，儀器頂部有專用的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩定，從而故障率極低 |
顯示器 | 整機一體化設計，工業級高分辨率TFT QVGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏，帶LED背光；像素240×320 |
顯示器固定方式 | 一體機設計,整機連體構造，PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低 |
顯示器可視性 | 顯示器無LCD高原反應，室內低光源與強光環境下也能有優異可視性，能耗低，比傳統低一半白光顯示增加各種環境的顯示性 |
數據顯示 | 有ppm與百分比（%）顯示元素含量，元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態顯示化學成份。 |
數據存儲 | ROM128M、RAM128M、2G SD卡，可存儲205000組數據與光譜 |
數據傳輸 | USB電纜、無線藍牙進行數據傳輸，文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。 |
處理器CPU | 532MHz CPU 、Freescal，ARM1136-MX31處理器，浮點運算方式，速度大幅提高 |
系統CPU外設 | 采用USB總線, I2C,GPIO, 藍牙, 加速器，實時的時鐘芯片，微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數據)，GPIO 條帶連接到扳機和PSM |
操作系統 | 用戶化 windows CE 6.0此同時系統, |
礦業程序 | Soil Beam1、Soil Beam2、Soil Beam3、Mining Beam1、Two beam mining |
輻射安全防護性能 | 電壓≤40KV,具有明顯的射線開啟警示燈，并具有自動保護裝置,窗口前無被測物時，啟動的儀器會在2秒后自動停止測試 |
射線管輻射屏蔽罩 | 儀器超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計，射線管處于輻射屏蔽功能鋁2024罩內，將輻射降到低 |
輻射書 | 有，華南計量測試中心 |
防塵,防霧,防水 | 一體機設計，軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構造設計，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作 |
數據與GPS綁定功能（可選配） | 可以,可在每一個測試結果中自動附加GPS信息,這些結果可以被專業的地球物理分析軟件自動引用. |
數據與GPS輸出（可選配） | 測試數據與GPS在EXCEL中完整輸出 |
GIS 數據采集手簿（可選配） | 具有1~5米精度的GPS數據采集系統TRIMBLE。 |
Arcpad軟件（可選配） | GPS與測試數據聯結軟件,測試數據與GPS在EXCEL中完整輸出,Explorer測試的每一個點皆可以顯示在屏幕實際地圖中,只要選取屏幕地圖中的點就可以查看分析數據與GPS數據. |
ioGAS軟件（可選配） | ioGAS軟件，它能進行各種統計，繪制地質3D調查圖，能產生可搜索文件。通過搜素可以很容易找到實景地圖，Explorer測試的每一個點皆可以顯示在屏幕實際地圖中,只要選取屏幕地圖中的點就可以查看分析數據與GPS數據。 |
ICP
儀器設備介紹：
ICP 原子發射光譜儀技術參數
產品規格與技術指標
固態電源
工作頻率：27.12MHz
頻率穩定性：<0.05％
匹配方式：自動匹配
輸出功率：800W ～1600W，連續可調，電源效率大于65%
輸出功率穩定性：≤0.05％
輸出工作線圈內徑25mm、3匝，配三同心外徑20mm的石英炬管
同軸型噴霧器外徑6mm；雙筒型霧室外徑35mm
掃描分光器
光路：Czerny turner型
焦距：1000mm
光柵規格：離子刻蝕全息光柵，刻線密度3600L/mm或2400L/mm；刻劃面積（80×110）mm
分辨率：0.008nm（3600線光柵） ≤0.015nm（2400線光柵）
掃描波長范圍：3600線光柵：(190～500) nm；2400線光柵：(190～800) nm
電子測量及控制電路
光電倍增管規格：R293/R3896
光電倍增管負高壓：（-50～-1000）V
光電倍增管電流測量范圍：（10-12～10-4）A
信號采集：VF轉換
計算機系統
主機：聯想品牌電腦
顯示器：17英寸液晶顯示器
打印機：Canon噴墨打印機
整機技術指標
掃描波長范圍：190-460nm（4320L/mm光柵），190nm～500nm（3600L/mm光柵），190nm～800nm（2400L/mm光柵）；
測量范圍
a.液體含量：0.01ppm-幾千ppm
b.固體含量：0.001%------70%
重復性：（即短期穩定度）相對標準偏差RSD≤1.5％ ；
穩定性：相對標準偏差RSD≤2％；
測試速度：5-8元素/每分鐘
儀器特點
可測元素70多種
分析速度快，一分鐘可測5-8個元素
多元素同時分析，客戶可以自由選擇元素數量與安排測量順序
檢出限低，達到ppb量級，Ba甚至達到0.7ppb
線性動態范圍寬，高達6個數量級，高低含量可以同時測量
分析成本低，一瓶氬氣可以用8個小時
全反射消色差光學系統
采用凹面反射鏡代替凸透鏡作為光學聚焦元件，解決了不同元素焦點不同而引起的色差問題，同時提高光學系統效率。
波長范圍寬
選擇4320條刻線光柵，波長范圍可達190nm-460nm
選擇3600條刻線光柵，波長范圍可達190nm-500nm
選擇2400條刻線光柵，波長范圍可達190nm-800nm
全自動化設計
自動化程度高，整臺儀器除了電源開關，儀器所有功能都是通過計算機控制，可靠、安全、方便。
氣體流量自動控制
進樣系統中，載氣、等離子氣、輔氣全部采用*的質量流量控制器（MFC）來控制，具有流量連續可調、流量穩定等優點，確保了進樣系統的穩定，為光源的穩定提供了堅強的保障。
*的進樣系統
進樣系統高效、穩定，可配備國內外各種霧化器、霧化室，可以配備高鹽霧化器，耐氫氟酸霧化器等，滿足不同客戶的需求。
穩定的廢液排除系統
通過蠕動泵進行廢液排除，確保進樣量與廢液排除速度一致，客戶可以根據需要適當調節速度，確保進樣系統穩定。
*穩定*的全固態射頻電源
儀器采用的射頻電源為自主研發的全固態射頻電源，具有體積小、效率高、輸出功率穩定、帶有各種保護功能等諸多優點，進一步提高了儀器的穩定性與安全性。
*快速準確的全自動匹配功能
負載終端采用自主研發的全自動匹配技術，具有匹配速度快、精度高等優點，確保了輸出功率最大限度的加到了負載上面，提高電源的使用效率，從而提高儀器的穩定性，并使得整個點火過程方便簡單。
*一鍵點火
配合固態電源與自動匹配技術，實現了一鍵點火功能。用戶只需點點火按鈕，儀器自動進行氣體吹掃、氣體流量檢查、點火、匹配等諸多動作，并將信息實時傳遞給客戶，讓客戶省心省事。
*觀察高度調節自動化
不同的元素有不同好的觀察高度，客戶可以根據經驗或者比較，適當的通過軟件調整火焰的觀察高度，在佳的位置得到好的測量效果。
強大的圖形診斷功能
強大的圖形診斷功能可以幫助客戶充分的了解當前儀器的工作狀態，并通過適當的參數設置來觀察不同條件下儀器的運行狀況，以把握佳的測量條件。
多元素自動測量
選擇需要測量的各個元素，設定好測量參數，一切交給儀器，最后直接得到所有元素的測量結果，簡單、省事。
*強大的數據庫管理
擁有幾千條譜線，可以根據需要與愛好選擇適當的譜線，避開可能存在的干擾，為您提供更多的選擇，更合理的推薦，讓測試變得更加專業與準確。
軟件擁有自主知識產權，功能強大，操作人性化
軟件功能強大，具有中英文自動切換功能，可進行定性、定量分析；有數據再處理功能；自動計算元素含量，自動生成測試報告；具有數據篩選功能，剔除不想要的數據；數據庫管理完善，可以自由保存與刪除。
應用領域
為客戶提供完善的售前、售中、售后解決方案環保行業
準確快速分析環境樣品（水質、土壤、大氣、油品）中的元素組成，為人類的日常生活保駕護航。
地礦行業
準確快速分析礦產元素含量，對礦山的前期開采，中期管控，后期修復等等都有嚴格的指導意義。
冶金行業
對產品成分的分析，可實時管控生產流程及工藝，確保最終產品的成分含量， 以保證最終產品的質量要求。
玩具醫療器械及消費品行業
對兒童玩具及生活消費品中重金屬元素的分析，醫療器械中重金屬含量的測試，確保生產的產品重金屬元素含量在管控范圍內，讓家長和孩子更加安心。
貴金屬行業
貴金屬雜質元素含量直接影響到貴金屬的純度和性能，同時決定了貴金屬本身的價值，準確測定低含量雜質元素的含量，對貴金屬行業顯得極其重要。
稀土行業
稀土元素的價值和用途越來越受到青睞，高純度的稀土元素應用范圍也越來越廣，雜質元素的分析尤為重要，稀土測試要求的準確、高效等特點均可以滿足。
其他行業所需要的元素測試
其他行業
附件 1
產品配置清單
產品名稱： 電感耦合等離子體發射光譜儀
產品型號： ICP700T
產品數量： 1
一、產品配置（以合同為準）
序號 | 配件名稱 | 數 量 | 單 位 | 備注 |
一 | 標準配置 | |||
1 | 主機 | |||
1.1 | ICP700T主機 | 1 | 臺 | 光柵刻線 3600L/mm ，2400L/mm ，4320L/mm三種光柵配置，三選一 |
2 | 軟件 | |||
2.1 | ICP單道掃描光譜儀分析軟件[ICP分析軟件]V1.0 | 1 | 套 | 光盤刻錄,免費升級 |
3 | 外設/附件 | |||
3.1 | 電腦主機 | 1 | 臺 | 品牌 |
3.2 | 佳能打印機 | 1 | 臺 | 品牌 |
3.3 | 網線 | 1 | 根 | |
3.4 | 多功能樣品盒 | 1 | 只 | |
3.5 | 塑料桶 | 1 | 只 | |
3.6 | 氣路系統 | |||
3.6.1 | 氬氣減壓閥 | 2 | 只 | In:0～25MPa,Out:0～0.4MPa入口端G5/8出口端M16×1.5RHM152IN-40 |
3.6.2 | 軟管轉接頭 | 2 | 只 | |
3.6.3 | 軟管轉接頭 | 4 | 只 | |
3.6.4 | PU軟管 | 15 | 米 | 10×6.5×1.75mm |
3.6.5 | PU軟管 | 10 | 米 | 6×4×1mm |
3.6.6 | PVC透明軟管 | 1 | 米 | 8mm×6mm透明軟管 |
3.7 | 水路系統 | |||
3.7.1 | 水管 | 15 | 米 | |
3.7.2 | 冷卻水箱 | 1 | 臺 | 同洲維普 |
3.8 | 電源系統 | |||
3.8.1 | 穩壓電源 | 1 | 臺 | |
3.8.2 | 插頭電源線 | 2 | 根 | RVVZ-3P,JL301F,227IEC53(RVV),300/500V,3×0.75mm2,10A250V |
3.8.3 | 接地銅編織線 | 15 | 米 | |
3.8.4 | 黃銅管 | 1 | 件 | 外徑48，壁厚3，長度500一端尖頭 |
3.9 | 隨機資料 | |||
3.9.1 | 保修卡 | 1 | 套 | 中文 |
3.9.2 | 產品質量合格證 | 1 | 套 | 中文 |
3.9.3 | 操作規程 | 1 | 套 | 中文 |
3.9.7 | 附件箱 | 1 | 件 | 附件包裝紙箱 |
4 | 備件/耗材 | |||
4.1 | 炬管 | 2 | 只 | SR-T-1.2-P，曙光明，耗材 |
4.2 | 霧化器 | 1 | 只 | 進口 |
4.3 | 毛細進樣管 | 1 | 米 | TYGON-R3603-AAC00001（D=2.38,d=0.8）mm |
4.4 | 蠕動泵泵頭軟管 | 3 | 根 | Ф1.52×0.86 長40cm tygon-R-3607（2S）兩卡 |
4.5 | 過濾罐濾芯 | 4 | 只 | 五寸,pp棉,水質,外徑:60mm,內徑:28mm,長度:125mm,過濾精度:5um |
4.6 | 霧室 | 2 | 只 | 雙筒型霧室 |
4.7 | 矩管調試工具 | 1 | 套 |
附件 2
產品技術指標
產品名稱：電感耦合等離子體發射光譜儀
產品型號：ICP700T
本產品技術指標參照國家標準《 JJG 768-2005 發射光譜儀檢定規程》執行。
一、技術指標
詳細指標參數如下。
光柵刻線 | 光柵：2400刻線 | 光柵：3600刻線 | 光柵：4320刻線 | |
波長 | 范圍 | 190nm-800nm | 190nm-500nm | 190nm-420nm |
示值誤差 | ±0.03nm | ±0.03nm | ±0.03nm | |
重復性 | ≦0.005nm | ≦0.005nm | ≦0.005nm | |
最小光譜帶寬 | Mn 257.610nm 半高寬≦0.030nm | Mn 257.610nm 半高寬≦0.015nm | Mn 257.610nm 半高寬≦0.007nm | |
檢出限/(ug/L) | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0 | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0 | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0 | |
重復性 | 3號溶液 RSD≤1.5% | 3號溶液 RSD≤1.5（%） | 3號溶液 RSD≤1.5（%）） | |
穩定性 | 3號溶液 RSD≤2% | 3號溶液 RSD≤2% | 3號溶液 RSD≤2% | |
說明：下表為檢定用溶液標準
表A.1 檢定波長用標準溶液
元素 | Se | Zn | Mn | Cu | Ba | Na | Li | K |
波長/nm | 196.026 | 213.856 | 257.610 | 324.754 | 455.403 | 588.995 | 670.784 | 766.491 |
濃度/（mg/L） | 10.0 | 10.0 | 5.00 | 5.00 | 5.00 | 20.0 | 10.0 | 20.0 |
注：基體為0.5mol/L硝酸 1.光柵刻線為2400L/mm時波長檢定以上元素 2.光柵刻線為3600L/mm時波長檢定元素不含Li、Na、K。 | ||||||||
表A.2 工作曲線系列標準溶液 單位：mg/L
元素 | Zn | Ni | Mn | Cr | Cu | Ba |
1號 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
2號 | 1.00 | 1.00 | 0.50 | 1.00 | 0.50 | 0.50 |
3號 | 2.00 | 2.00 | 1.00 | 2.00 | 1.00 | 1.00 |
4號 | 5.00 | 5.00 | 2.50 | 5.00 | 2.50 | 2.50 |
注：基體為0.5mol/L硝酸 | ||||||
二.典型元素檢出限（μg/L）(測試對象不同有所不同）：
元素 | La | Ce | Pr | Nd | Sm | Eu | Gd | Tb |
波長(nm) | 408.672 | 413.765 | 414.311 | 401.225 | 360.946 | 381.967 | 342.247 | 350.917 |
檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | < 10.0 | < 1.0 | <10.0 | < 3.0 |
元素 | Dy | Ho | Er | Tm | Yb | Lu | Y | Sc |
波長(nm) | 353.170 | 345.600 | 337.271 | 313.126 | 369.419 | 261.541 | 371.030 | 335.373 |
檢出限 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <3.0 | <1.0 | <1.0 |
元素 | Ta | Nb | Mn | Mg | B | Zn | Co | Si |
波長（nm） | 226.230 | 313.340 | 257.610 | 279.553 | 249.773 | 13.856 | 228.616 | 251.611 |
檢出限 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <10.0 | <3.0 | <3.0 | <10.0 |
元素 | Ni | Cd | Fe | Ca | Mo | V | Be | Ti |
波長(nm) | 232.003 | 226.502 | 239.562 | 393.366 | 281.615 | 310.230 | 313.041 | 334.941 |
檢出限 | <5.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 | <1.0 | <3.0 |
元素 | Cu | Cr | Al | Zr | Ag | Sr | Au | Pt |
波長(nm) | 324.754 | 267.716 | 396.152 | 343.823 | 328.068 | 407.771 | 242.795 | 265.945 |
檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 |
元素 | As | Sb | Bi | Hg | Pb | Ga | Se |
波長(nm | 228.812 | 206.833 | 223.061 | 253.652 | 220.353 | 294.364 | 203.985 |
檢出限 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤10 |
元素 | Pd | Ir | Rh | Ru | Ba |
波長(nm) | 340.458 | 224.268 | 343.489 | 240.272 | 455.403 |
檢出限 | <5.0 | <10.0 | <10.0 | <5.0 | <1.0 |
元素 | Sn | Te | Ta | Th | Tl | Re | Ge |
波長(nm) | 242.949 | 214.281 | 226.230 | 283.730 | 276.787 | 227.525 | 209.426 |
檢出限 | ≤20 | ≤10 | ≤5.0 | ≤10 | ≤30 | ≤5 | ≤15 |
元素 | Os | W | Se | Li | Na | K |
波長(nm) | 225.585 | 207.911 | 203.985 | 670.784 | 588.995 | 766.490 |
檢出限 | ≤1 | ≤10 | ≤30 | ≤3 | ≤20 | ≤60 |
三.工作環境要求
2.1、不要將儀器直接安裝在窗戶邊或者門邊，避免對流、灰塵、腐蝕性氣體及振動。
2.2、請遠離強電磁場干擾。
2.3、環境溫度：20～25℃。
2.4、工作濕度：≤ 70%。
2.5、儀器應放置在平穩的工作臺上，無振動，儀器上方應有排風系統，儀器附近應無強光直射及強烈電磁場干擾，環境中應無強烈腐蝕性氣體。
2.6、詳細工作條件以及安裝方法請參照《ICP700T實驗室安裝條件》。
四.產品驗收方法
3.1 按產品配置清單清點產品；
3.2 驗收測試方式采用標樣測試，在符合產品“工作環境要求”的工作條件情況下，測試結果的各項指標符合產品的“技術參數”則標志驗收通過，甲方應簽署驗收合格確認書；
3.3 甲方需在收到儀器15日內，提供符合本合同第三條“工作環境要求”的儀器安裝地點；協同乙方完成裝機和培訓并參與合同產品的驗收。如甲方在收到儀器30日內，無法協同乙方完成裝機及培訓，則視為合同標的已驗收合格，甲方不得提出異議
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