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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)> 賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡

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賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡

參考價7000000-15000000
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌FEI/賽默飛
  • 型號
  • 所在地上海市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024/8/28 13:08:54
  • 訪問次數 1272

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FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結構分析(MSD) 電鏡事業部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創新者和供應商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結合先進的軟件套件,運用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學和電學分析相結合,使客戶的問題變成有效可用的數據。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

產地類別 進口 價格區間 700萬-1500萬
儀器種類 冷場發射 應用領域 化工
  在大體積樣品上獲得最高質量三個方向分辨率一致三維數據
 
  生命科學專用的賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡是我們先進的連續切面成像系統(Serial Block Face Imaging,SBFI)。該系統簡單易用,讓使用者能夠精準的控制實驗,已驗證的解決方案適用于各種樣品類型,保證數據采集的每一步都達到最高的質量,從而保護有價值的樣品。
 
  賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡核心優勢:
 
  簡單易用:
 
  能夠重復使用的工作和系統設置
 
  在采集過程中創建多個ROI
 
  在采集過程中可以使用 Amira Live Tracker 功能進行可視化和導航操作,以實時優化/控制結果
 
  可在無人值守情況下采集大體積樣品的三維數據,并自動進行重構,為研究人員騰出寶貴的時間
 
  輕松、快速地安裝和卸載超薄切片機以便在常規掃描電鏡和自動化陣列式斷層掃描成像(Array Tomography,AT)之前切換,后者需選配 Thermo Scientific Maps 軟件
 
  在每個采集步驟中,使用經過測試的、適用于各種類型樣品的解決方案來保護珍貴的樣品:
 
  通過密集測試確保系統性能和可靠性
 
  通過碎片識別功能實現碎片捕集和Swipe滑動以很大化對樣品的有效保護
 
  可使用HiVac和LoVac兩種模式采集荷電樣品,更可靠;LoVac探頭(VSDBS)用于高荷電樣品,可提供與HiVac相當的數據質量
 
  MED確保在z軸方向上獲得最高的圖像質量(高達10 nm的光學切片以實現各向同性的分辨率)
 


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